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布魯克 D8 ADVANCE
布魯克 D8 ADVANCE
  • 布魯克 D8 ADVANCE
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布魯克 D8 D8 ADVANCE 達芬奇 X射線衍射儀

成交價:125~140萬元[人民幣] 查中標價查中標價
型號:D8 ADVANCE 品牌:布魯克 產地:德國 指導價: 125~140萬元
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用戶采購價格
主要參數
發生器功率 3kW 重復性 0.0001
最小步進角度 0.0001 角度偏差 0.0001
型號 D8 ADVANCE 品牌 布魯克
國產/進口 進口 儀器產地 歐洲
價格范圍 100萬-150萬 種類 多晶衍射儀
產品詳情

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區)的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!


高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供全球保證!


先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。


應用

物相定性分析

結晶度及非晶相含量分析

結構精修及解析

物相定量分析

點陣參數精確測量

無標樣定量分析

微觀應變分析

晶粒尺寸分析

原位分析

殘余應力

低角度介孔材料測量

織構及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率測量

小角散射

指標參數

技術指標: 

Theta/theta 立式測角儀 

2Theta角度范圍:-110~168°

角度精度:0.0001度

Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管

探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器

儀器尺寸:1868x1300x1135mm 

重量:770kg

  儀器配置

  D8型X射線衍射儀系列是當今世界上zei先進的X射線衍射儀系統。

  包括陶瓷X光管、X射線高壓發生器、高精度測角儀、閃爍晶體探測器、計算機控制系統、數據處理軟件、相關應用軟件和循環水裝置。

 

  技術參數

  X射線發生器:電流電壓輸出穩定性優于0.005% (外電壓波動10%)時;X射線防護: 國際安全認證,射線劑量≤0.2μSv/h。

  光管類型:陶瓷X光管,Cu靶,其他靶材可選,更換無需校準;光管功率:2.2 kW;長細焦斑:0.4×12mm;zei大管壓:60kV;zei大管流:80mA;

 

  測角儀:采用步進馬達驅動和光學編碼器技術,

                掃描方式&theta;/&theta;或&theta;/2&theta;測角儀; zei小步進角度0.0001°; 角度重現性0.0001 °;

               zei高定位速度 ≥1500°/min。索拉(Soller)狹縫:0.02, 0.04, 0.08 rad。

 

  探測器:閃爍或固體

                閃爍晶體計數器;動態范圍≥2×106 cps;背底噪聲< 0.5 cps。

                固體探測器:鋰漂移硅能量色散型; 測量范圍2keV ~ 30keV; 能量分辨率: E ≥279eV。

 

  系統軟件:系統控制和數據采集軟件;物相檢索軟件及數據庫;粉末衍射全分析軟件包(相分析軟件、物相定量分析軟件;精密測定晶胞參數;樣品中無定型含量;微晶尺寸和(或)微觀應力分析軟件;結構精修和面間距與角度計算;模擬復雜混合相或單相的無標定量分析);殘余應力分析軟件;晶粒度分析軟件。

參考招標參數:中國科學院2018年儀器設備部門集中采購項目(第一批)

招標編號:OITC-G180260376-1

第9包 X射線衍射儀

1. 工作條件:

1.1  電力供應:單相220V(±10%),50Hz

1.2 工作溫度:10°C-40°C

1.3 相對濕度:≤75%

1.4 儀器運行的持久性:能夠滿足長時間連續工作 

2. 設備用途:

能夠精確地對金屬和非金屬多晶樣品進行物相定性、定量分析,配備多位自動進樣樣品臺,能完成多個樣品的連續測量。

3. 主要技術指標:

3.1. X射線光源

3.1.1. X射線發生器部分

3.1.1.1 最大輸出功率:3kW

3.1.2 X射線光管部分

*3. 1.2.1 X射線光管:Cu靶,陶瓷X光管,2.2 kW,國際標準尺寸,能與其他廠家的標準管互換

3.1.2.2 焦斑大小:0.4 x 12 mm

3.1.3 電流電壓穩定度:優于±0.005% (外電壓波動10%)時

3.1.4 X射線防護:安全連鎖機構、劑量符合國標;防護罩外任何一點的計量小于1mSv/h

3.2. 測角儀部分

3.2.1 測角儀:采用光學編碼器技術與步進馬達雙重定位

3.2.2 掃描方式:q/q測角儀,測角儀垂直放置

*3.2.3 2q轉動范圍:-100°≤2q≤168°

3.2.4 測角儀半徑:200 mm,測角圓直徑可連續改變

3.2.5 可讀最小步長:0.0001°,角度重現性:0.0001°

*3.2.6 最高定位速度:1200°/min

3.2.7 采用智能虛擬測角儀全自動控制,硬件自動識別、自動糾錯

3.2.8 驗收精度:國際標準樣品現場檢測,全譜范圍內所有峰的角度偏差不超過±0.01度。

3.3. 探測器部分: 提供能量分辨型半導體陣列探測器

3.3.1 子探測器個數:>2560個

*3.3.2 整個探測器的背景:<0.1 cps

*3.3.3 探測器本身的能量分辨率,即無需在光路上使用任何濾波片或者單色器的情況下,優于680eV (相對于 CuKa能量分辨率優于9%),在用戶提出要求時,投標商必須提供國內現有用戶進行此項指標驗證。

*3.3.4 確保所有子探測器全好,具有靜態掃描功能,具有點探測器功能,無需再配備閃爍或者正比探測器

3.3.5 提供的半導體陣列探測必須適合小角和廣角測試,小角最小從0.3度開始

3.4. 功能附件

3.4.1 多位自動進樣樣品臺

*3.4.1.1 能同時放置不少于90個樣品,可實現所有樣品的連續全自動掃描,在用戶提出要求時,投標商必須提供國內現有用戶進行此項指標驗證。

*3.4.1.2 樣品臺可自轉

*3.4.1.3 樣品臺同時具備透射和反射模式

3.5 儀器控制和數據采集系統

3.5.1 數據采集系統,不低于以下配置:雙核主頻3.0G Hz以上,8G 內存,500G HD,CD-RW,24”液晶顯示器,網卡

3.5.2 儀器控制和數據采集軟件

3.6. 應用軟件:要求提供以下應用分析軟件

3.6.1 物相檢索軟件:含原始數據直接檢索功能

3.6.2 物相定量分析:可編程定量分析軟件

3.6.3 無標樣晶粒大小分析及微觀應力分析

3.6.4 粉末數據指標化、結構精修、從頭結構解析以及無標樣定量分析軟件

3.6.5 提供最新的正版粉末衍射數據庫,并可以免費更新

3.7. 循環水冷系統:滿足相應系統連續滿功率運行(國內供貨)

3.8. 培訓、安裝、技術文件

免費國內培訓(買方負責受訓人員差旅費)、免費安裝調試及現場培訓、提供有關的全套技術文件。

3.9. 儀器及生產商必須滿足的相關國際安全標準

3.9.1  質量標準:ISO9001 & EN29002認證

3.9.2  安全標準: EC 認證

3.9.3  射線防護標準:DIN 54113認證

產品獎項
采購單位名稱采購時間購臺數應用領域

清華大學材料學院

2011/01/181
7.5
0/2000字數
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布魯克 D8 D8 ADVANCE 達芬奇 X射線衍射儀