偏光顯微鏡的研究對象
在偏光顯微鏡下觀察的不是巖石或礦物的標本，而是它們某個方向的切片(礦片)。因此，在研究和鑒定巖石或透明礦物時，需要事先磨制好巖石薄片。
巖石薄片是由薄的礦片(標準為0.03mm)、載玻璃片和蓋玻璃片三部分組成(圖2－11)，連接它們的是加拿大樹膠(在礦片的頂、底部涂有薄的加拿大樹膠)。巖石薄片的磨制包括切、磨、粘、磨、粘和蓋等步驟。具體的制作過程如下:首先用切片機從巖石標本上切下一小巖塊(定向或不定向，對于多孔或松散的巖石則需先浸在加拿大樹膠中煮過以后再切)，并在磨片機上把該巖塊的一面磨平，用加拿大樹膠把這一平面粘在載玻璃片中部(其大小為25mm×80mm，厚約1mm)，然后再磨另一面，直到磨至厚度0.03mm為止，再用加拿大樹膠把蓋玻璃粘在巖石礦片上(蓋玻璃大小為15mm×15mm至20mm×20mm，厚度0.1～0.2mm)。巖石薄片通常只能用于一般的巖相學觀察，而不能用于礦物電子探針成分分析和反射光下不透明礦物組分的研究。
圖2-11 普通巖石薄片的縱剖面圖
應當注意的是，巖石薄片的磨制需使用金剛砂。無論所用的金剛砂有多細，礦片表面總會磨劃有顯微溝痕。因此，礦片表面并非絕對平滑。
另外，為了一些特殊的需要(如礦物電子探針分析等)，薄片可以不加蓋玻璃片，但需將其表面拋光，同時其厚度較通常的巖石薄片略大一些(0.04mm左右)，這樣的薄片稱為光薄片。光薄片的制作步驟基本類似于巖石薄片的制作過程，不同之處在于不加蓋玻璃片而是拋光，從而制成無蓋玻璃片的單面拋光薄片。它與通常的巖石薄片相比，有如下優點:①可以從透明礦物與不透明礦物兩方面進行巖石學研究，有利于巖石的含礦性研究(不需要另磨光片);②可以測定礦物的反射率及其顯微硬度;③可以把巖石學研究中所關心的對象(如礦物的成分分析點)標出來，以便隨后進行電子探針分析;④可對礦物進行微化試驗和薄片染色處理;⑤在巖石學研究中能用高倍的油浸鏡頭并能獲得高的分辨率，這對顯微、超微構造的研究更為優越;⑥可以得到較好的顯微照片;⑦拋光的薄片如果表面受損還可以再拋光。因此，光薄片在巖石學研究中比覆蓋有蓋玻璃片的普通巖石薄片更具有優越性。
總的來說，通常的巖石薄片與光薄片都有它們自身的特點。我們在選磨巖石薄片或光薄片時，應根據研究的要求和目的恰當選用。如果只進行一般的巖石定名，巖石薄片是完全可以滿足要求的。如果還需要進行成因分析、含礦性研究及進一步的礦物成分獲取則最好選擇光薄片，但后者磨制的成本較高。
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綜述
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