XRF鍍層測厚儀的原理
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。
2、XRF鍍層測厚儀：
俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。
功能：精密測量金屬電鍍層的厚度。
應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
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1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。
2、XRF鍍層測厚儀：
俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。
功能：精密測量金屬電鍍層的厚度。
應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
