ICP-AES和ICP-OES有什么區(qū)別
區(qū)別：
1、測量對象
ICP-MS測量的是離子質(zhì)譜，提供在3～250 amu范圍內(nèi)每一個(gè)原子質(zhì)量單位(amu)的信息，ICP-MS除了元素含量測定外，還可測量同位素。
ICP-OES測量的是光學(xué)光譜(165～800nm)
2、干擾
ICP-MS的干擾:質(zhì)譜干擾、基體酸干擾、雙電荷離子干擾、基體效應(yīng)、電離干擾、空間電荷效應(yīng)。
ICP-OES干擾：光譜干擾、基體效應(yīng)、電離干擾。
3、線性動(dòng)態(tài)范圍LDR
ICP-MS具有超過105的LDR，各種方法可使其LDR開展至108，ICP-MS應(yīng)用的主要領(lǐng)域在痕量/超痕量分析。
ICP-OES具有105以上的LDR且抗鹽份能力強(qiáng)，可進(jìn)行痕量及主量元素的測定，ICP-OES可測定的濃度高達(dá)百分含量
4、精密度
ICP-MS的短期精密度一般是1～3% RSD，這是應(yīng)用多內(nèi)標(biāo)法在常規(guī)工作中得到的。長期(幾個(gè)小時(shí))精密度為小于5%RSD。
ICP-OES的短期精密度一般為0.3～2%RSD，幾個(gè)小時(shí)的長期精密度小于3%RSD。
5、樣品分析能力
ICP-MS有驚人的能力來分析大量測定痕量元素的樣品，典型的分析時(shí)間為每個(gè)樣品小于5分鐘，在某些分析情況下只需2分鐘。Consulting實(shí)驗(yàn)室認(rèn)為ICP-MS的主要優(yōu)點(diǎn)即是其分析能力。
ICP-OES的分析速度取決于是采用全譜直讀型還是單道掃描型，每個(gè)樣品所需的時(shí)間為2或6分鐘，全譜直讀型較快，一般為2分鐘測定一個(gè)樣品。
