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DIN ISO 24173:2013-04
微束分析 使用電子背散射衍射進行取向測量的指南

Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction (ISO 24713:2009)


DIN ISO 24173:2013-04 中,可能用到以下儀器

 

牛津儀器C-Nano+ EBSD探測器 高分辨型CMOS EBSD

牛津儀器C-Nano+ EBSD探測器 高分辨型CMOS EBSD

牛津儀器科技(上海)有限公司

 

DIN ISO 24173:2013-04

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標準號
DIN ISO 24173:2013-04
發布
2013年
發布單位
德國標準化學會
當前最新
DIN ISO 24173:2013-04
 
 

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