金屬鍍層測厚儀系統校準過程:系統校準流程如圖10所示,在校準菜單中選擇“系統校準”選項,按“ENTER”鍵后,儀器進入系統校準模式。本系統校準共需要校準五個標準樣片,進入系統校準后首先顯示"基體"界面,此時要把探頭垂直的放到被測件的裸露基體上進行測量。測量兩次后如果測量沒有錯誤操作,伴隨著兩聲蜂鳴便...
中國科學技術大學教授、中國科學院院士郭光燦領導的中科院量子信息重點實驗室在探測設備無關型量子密鑰分配的研究方面取得新進展:該實驗室量子密碼研究組的銀振強、王雙、韓正甫、陳巍等在國際上首次實現了無需參考系校準的測量設備無關型量子密鑰分配(MDI-QKD)實驗系統,顯著增強了系統的實際安全性和工作...
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