透射電鏡比較適合納米粉體樣品的形貌分析，但顆粒大小應小于300nm，否則電子束就不能透過了。對塊體樣品的分析，透射電鏡一般需要對樣品進行減薄處理。透射電鏡可用于觀測微粒的尺寸、形態、粒徑大小、分布狀況、粒徑分布范圍等，并用統計平均方法計算粒徑，一般的電鏡觀察的是產物粒子的顆粒度而不是晶粒度。...
當小晶體的尺寸和形狀基本一致時，計算結果比較可靠。但一般粉末試樣的具體大小都有一定的分布，謝樂的微晶尺度計算公式需修正，否則只能是近似結果。X射線衍射法是非破壞性檢測方法，測量的準確度還與樣品內部應力大小有關。 透射電子顯微鏡法是通過納米粒子在照片上的投影來直接反映顆粒的形貌與尺寸，故此法的優點是可直接觀察形貌和測定粒徑大小，具有一定的直觀性與可信性。...
在稀釋過程中，可以觀察到各個顆粒的布朗運動進行分析。最佳濃度取決于顆粒和溶劑。?流體力學半徑由于該技術用于測定顆粒的流體力學半徑（即顆粒半徑，加上幾納米水層），因此樣品應在1mM 的鹽溶液中制備，以便減小顆粒周圍緊緊包裹的水層尺寸。由于樣品測量的是流體力學半徑，測得的數值始終會比標準物質的產商所列出的透射電子顯微鏡測得的結果大幾納米。?...
ISO在2022年1月發布了Turbiscan測量粒度標準《納米技術——靜態多重光散射法測量液體分散體中納米物體平均尺寸》，文中描述了利用SMLS靜態多重光散射技術測量不同樣品類型（寬濃度范圍）的平均當量粒徑的標準方法。納米顆粒液態分散體系被廣泛應用在工業中。納米顆粒在液體中通過各種強弱力量相互作用，可能導致絮凝或聚集（初級粒子、聚集體、絮凝體等）。...
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