SJ/T 10458-1993
俄歇電子能譜術和X射線光電子能譜術的樣品處理標準導則
Standard guide for specimen handling in auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy
SJT10458-1993, SJ10458-1993
- 標準號
- SJ/T 10458-1993
- 別名
- SJT10458-1993, SJ10458-1993
- 發布
- 1993年
- 總頁數
- 11頁
- 發布單位
- 行業標準-電子
- 當前最新
- SJ/T 10458-1993
- 適用范圍
- 本標準導則適用于俄歇電子能譜術(AES)和X射線光電子能譜術(XPS)，也適用于其他表面靈敏分析技術。 本標準導則可能涉及有害的操作、設備及物質，但沒有說明所有相關的安全問題。使用者在使用本導則前，應該制定適當的安全與保健措施，并確定本導則的應用范圍。
專題
SJ/T 10458-1993相似標準
SJ/T 10458-1993 中可能用到的儀器設備
俄歇電子能譜（AES）
X光電子能譜儀(XPS/ESCA)
X射線吸收精細結構譜儀XAFS
X射線能譜儀(EDS)
二次離子質譜/離子探針
原位樣品桿/臺
過程質譜/在線質譜
橢偏儀
X射線探測裝置
電鏡制樣設備
電化學工作站
電化學發光儀
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電鏡附件及外設
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化學吸附儀
電磁/電渦流測厚儀
其他試驗機
離子濺射儀
電子束刻蝕
離子減薄儀
等離子體表面處理儀
脫氣/除氣
氫空一體機
旋轉蒸發儀
勻膠機
分子互作分析儀
在線反應分析系統
藥物透皮擴散試驗儀
電子束刻蝕
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其它行業專用
能源/交通/運輸
信號采集處理
原子層沉積(ALD)
脈沖電子沉積(PED)
半導體專用檢測儀器設備