MIL-M-38510/174B-2004 是美國國防部發(fā)布的標準化文件,屬于微電路領域的規(guī)范。該標準詳細規(guī)定了數(shù)字 CMOS 反相器、NAND 門、緩沖驅動器、頻閃十六進制反相器/緩沖器以及電壓電平轉換器的性能要求和測試方法。這些器件采用單片硅技術制造,支持正邏輯操作,適用于軍事和航空航天等高可靠性應用場景。此標準取代了之前的 MIL-M-38510/174A,進一步優(yōu)化了技術指標和測試流程,以確保器件在極端環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。
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