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KS C 6111-5-2008(2023)
微波頻率下超導體薄膜厚度的測量

Measurements of the thickness of superconductor films at microwave frequencies


標準號
KS C 6111-5-2008(2023)
發布
2008年
發布單位
KR-KS
當前最新
KS C 6111-5-2008(2023)
 
 

專題


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