ISO 20903:2019
表面化學分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
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- 標準號
- ISO 20903:2019
- 發布
- 2019年
- 發布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 20903:2019
- 引用標準
- ISO 18115-1
本文件規定了基于俄歇電子和 X 射線光電子能譜峰強度測量的分析結果報告中所需的必要信息。 還提供了有關峰強度測量方法和衍生峰面積不確定性的信息。
專題
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