EN ISO 21363:2022
納米技術 - 通過透射電子顯微鏡測定粒度分布的方案

Nanotechnologies - Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy (ISO 21363:2020)

作廢

標準號

EN ISO 21363:2022

發布

2022年

發布單位

歐洲標準化委員會

當前最新

EN ISO 21363:2022

 

 

適用范圍

本文件詳細說明了如何捕獲、測量和分析透射電子顯微鏡圖像以獲得納米級的顆粒尺寸和形狀分布。本文件廣泛適用于納米物體以及尺寸大于 100 nm 的顆粒。該方法的確切工作范圍取決于所需的不確定性和透射電子顯微鏡的性能。這些要素可以根據本文件中描述的要求進行評估。

專題

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