DB32/T 3594-2019
晶體硅太陽電池?zé)岚吣途眯阅茉囼?yàn)方法
Test method for hot spot durability of crystalline silicon solar cells
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- DB32/T 3594-2019
- 發(fā)布
- 2019年
- 發(fā)布單位
- 江蘇省標(biāo)準(zhǔn)
- 當(dāng)前最新
- DB32/T 3594-2019
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)適用于單晶硅、多晶硅太陽電池，也可用于經(jīng)過封裝，但電池的電路單獨(dú)引出的樣品。