本文件規定了采用電子背散射衍射(e l e c t r onba cks c a t t e rd i f f r a c t i on,EBSD)法測量鋼中奧氏體體積分數和形態的方法、設備、取樣和試樣制備、測量步驟、數據處理和檢驗報告。
本文件適用于分析含有晶粒尺寸50nm 以上奧氏體的中、低碳鋼及中、低碳合金鋼。
本文件不適用于分析晶粒尺寸小于50nm 的奧氏體,奧氏體晶粒尺寸小于50nm 會嚴重影響定量分析結果的準確性。
注:晶粒尺寸下限是可觀察到的最小奧氏體晶粒尺寸。
晶粒尺寸下限取決于設備條件和操作參數。