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GB/T 20725-2006
波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則

Electron probe microanalysis guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

GBT20725-2006, GB20725-2006

2025-10

標準號
GB/T 20725-2006
別名
GBT20725-2006, GB20725-2006
發布
2006年
總頁數
11頁
采用標準
ISO 17470:2004 IDT
發布單位
國家質檢總局
替代標準
GB/T 20725-2025
當前最新
GB/T 20725-2025
 
 
引用標準
ISO 14594:2003
適用范圍
本標準是用電子探針或者掃描電鏡中的波譜儀獲得試樣特定體積內(μm3尺度)的X射線譜,進行元素鑒別和確認特定元素存在的一種標準方法。
術語描述
高/欠衍射
Higher-order Diffraction
在X射線分析中,除主衍射峰外的其他衍射現象,涉及更高階的反射。
入射電子束固 勇丁
Incident Electron Beam
用于轟擊試樣表面以激發X射線的高能電子流。

GB/T 20725-2006 中提到的儀器設備

波譜儀
用于檢測和記錄X射線光譜的設備,通常與衍射晶體配合使用以分離不同波長的X射線。
電子探針微分析儀(EPMA)
利用細聚焦電子束進行顯微區域元素分析的儀器。

專題


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