YS/T 666-2008
工業鎵化學分析方法 雜質元素的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法
Chemical analysis methods of gallium for industrial use.Determination of impurity elements.Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
YST666-2008, YS666-2008
- 標準號
- YS/T 666-2008
- 別名
- YST666-2008, YS666-2008
- 發布
- 2008年
- 總頁數
- 7頁
- 發布單位
- 行業標準-有色金屬
- 當前最新
- YS/T 666-2008
- 適用范圍
- 本標準規定了工業鎵中硅、鈉、鉀、鎂、鈣、鋁含量的測定方法。 本標準適用于工業鎵[99.9%≤ω（%）≤99.995%]中硅、鈉、鉀、鎂、鈣、鋁含量的測定。測定范圍見表1。