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GB/T 15617-2002
硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法

Quantitative analysis of silicate minerals by electron probe microanalysis

GBT15617-2002, GB15617-2002


標準號
GB/T 15617-2002
別名
GBT15617-2002, GB15617-2002
發布
2002年
總頁數
9頁
發布單位
國家質檢總局
當前最新
GB/T 15617-2002
 
 
引用標準
GB/T 15074 GB/T 17366 GB/T 4930
被代替標準
GB/T 15617-1995
適用范圍
本標準規定了電子束下穩定的天然和人工合成硅酸鹽礦物的電子探針或掃描電子顯微鏡中X射線波長色散光譜儀的定量分析方法。 本標準也適用于其它含氧酸,如磷酸鹽、硫酸鹽等礦物以及普通氧化物。其基本準則也適用于X射線能譜儀的定量分析。
術語描述
硅酸鹽
Silicate
含有硅酸根離子團的鹽類。
光薄片
Polished Thin Section
指雙面拋光的沒有蓋玻璃片的薄片,可進行巖相和礦相觀察。
端元氧化物
End-Member Oxide
只含一個非氧元素的氧化物,如 SiO。

GB/T 15617-2002 中提到的儀器設備

電子探針分析儀或帶 X 射線波譜儀的掃描電子顯微鏡
用于材料的顯微結構和成分分析。
樣品磨片機和拋光機
用于制備試樣的設備。

專題


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