卡尺 分辨力優(yōu)于 0.02 mm | 用于測量尺寸、形狀和位移。 |
光學(xué)顯微鏡 帶標(biāo)尺,分辨力優(yōu)于 0.01 mm | 用于觀察背面鋁膜的凸起高度及圖形缺陷。 |
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