X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫(yī)學,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。 ...
特點:在靠近表面5-20埃范圍內化學分析的靈敏度高,很高的空間分辨率,最小可達到6nm;能探測周期表上He以后的所有元素及元素分布;通過成分變化測量超薄膜厚4.X射線光電子能譜(XPS)原理:激發(fā)源為X射線,用X射線作用于樣品表面,產生光電子。通過分析光電子的能量分布得到光電子能譜研究樣品表面組成和結構。...
分3種類型:(1)基于發(fā)射原理的有發(fā)射光譜化學分析、火焰光度分析、熒光X射線光譜分析、熒光分析、原子熒光譜分析等;(2)基于吸收原理的有比色分析、比濁分析、紅外線吸收光譜分析、原子吸收光譜分析等;(3)基于其他原理的還有X射線衍射分析、電子顯微鏡分析以及偏光分析等。...
對于這種類型的分析,采用掠入射X射線熒光(GI-XRF)方法,通過改變X射線源的入射角使表面之下的元素被激發(fā)。NANOHUNTER II光譜儀具備改變入射角的功能,能夠進行深度表面分析。GI-XRF技術適用于納米級研究。 儀器特點 1、檢測元素范圍廣 可檢測元素從Al 到U。 2、針對極小樣品量檢測 對于液體樣本,10uL-50uL就足夠了,比常規(guī)化學分析方法樣本量低一到兩個數量級。...
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