ASTM E925-09(2014)
光譜縫寬不超過2 nm的可見紫外線分光光度計的校準監控的標準實施規程
Standard Practice for Monitoring the Calibration of Ultraviolet-Visible Spectrophotometers whose Spectral Bandwidth does not Exceed 2 nm
- 標準號
- ASTM E925-09(2014)
- 發布
- 2009年
- 發布單位
- 美國材料與試驗協會
- 替代標準
- ASTM E925-09(2022)
- 當前最新
- ASTM E925-09(2022)
- 引用標準
- ASTM E131 ASTM E169 ASTM E1866 ASTM E275 ASTM E387 ISO/IEC 17025
- 適用范圍
- 1.1 本實踐涵蓋了分光光度性能參數，這些參數對于測試儀器是否適合大多數常規測試和方法2至關重要，波長范圍為 200 至 700 nm，吸光度范圍為 0 至 2。推薦的測試提供對分光光度法中控制結果的重要參數的測量，但具體不能推斷儀器性能的所有因素都被測量。
1.2 這種做法可用作光譜帶寬不超過 2 nm 且制造商的波長和吸光度精度規格不超過性能容差的儀器性能的重要測試受雇于這里。該實踐對 0.2 至 2.0 范圍內的吸光度標度誤差采用了 18201% 的說明性公差，對于波長標度的誤差采用了 1.0 nm 的說明性公差。建議的最大雜散輻射功率比為 4 × 10-4 在吸光度為 2 時產生 lt;18201;% 吸光度偏差。選擇這些公差是為了與許多化學應用兼容，同時輕松超過參考材料的認證值和典型制造商的規格的不確定性被測儀器的波長和吸光度標度的誤差。鼓勵用戶開發和使用更適合最終用途應用要求的公差值。該程序旨在持續驗證定量性能，并將一臺儀器的性能與其他類似裝置的性能進行比較。請參閱練習 E275 以廣泛評估儀器的性能。
1.3 這種做法應定期進行，其頻率取決于使用儀器的物理環境。因此，粗暴處理或在不利條件（暴露于灰塵、化學蒸汽、振動或其組合）下使用的設備應比未暴露于此類條件的設備更頻繁地進行測試。在對設備進行任何重大維修（例如涉及光學器件、探測器或輻射能源的維修）后也應執行此做法。 1.4 以 SI 單位表示的值被視為標準值。本標準不包含其他計量單位。
1.5 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任在使用前建立適當的安全和健康實踐并確定監管限制的適用性。
專題
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