原子力顯微鏡檢定規(guī)程
本專題涉及原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準有41條。
國際標準分類中，原子力顯微鏡檢定規(guī)程涉及到長度和角度測量、分析化學、物理學、化學、試驗條件和規(guī)程綜合、飼料、航空航天制造用材料、熱力學和溫度測量。
在中國標準分類中，原子力顯微鏡檢定規(guī)程涉及到電磁計量、計量綜合、化學計量、長度計量、光學計量、放大鏡與顯微鏡、溫度與壓力儀表、、畜禽飼料與添加劑、基礎(chǔ)學科綜合、基礎(chǔ)標準與通用方法。
國家計量檢定規(guī)程，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(地質(zhì)) 1016-1990 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(教委) 12-1992 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程
- JJG 904-1996 讀數(shù)顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(教委) 14-1992 金相顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(教委) 012-1996 金相顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(教委) 13-1992 高溫顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG 77-1983 干涉顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG 77-2006 干涉顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG 56-2000 工具顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(航天) 50-1988 工具顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG 571-1988 測量顯微鏡檢定規(guī)程
俄羅斯標準局，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- GOST R 8.593-2009 確保測量一致性的國家體系.原子力掃描隧道顯微鏡.檢定規(guī)程
英國標準學會，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- BS ISO 23729:2022 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
- BS ISO 21222:2020 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
國際標準化組織，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- ISO 23729:2022 表面化學分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復(fù)程序指南
- ISO 21222:2020 表面化學分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點JKR法測定柔順材料彈性模量的程序
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- GSO ISO 13095:2015 表面化學分析 原子力顯微鏡 用于納米結(jié)構(gòu)測量的原子力顯微鏡探針卡盤的原位表征程序
行業(yè)標準-兵工民品，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- WJ 2293-1995 顯微鏡溫臺熔點測定儀檢定規(guī)程
ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力顯微鏡（技術(shù)背景）
行業(yè)標準-商品檢驗，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- SN/T 0297-1993 出口生物顯微鏡檢驗規(guī)程
- SN 0297-1993 《出口生物顯微鏡檢驗規(guī)程》
中國團體標準，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測量 原子力顯微鏡法
- T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜楊氏模量的測定 原子力顯微鏡法
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法
- GB/T 14698-2017 飼料原料顯微鏡檢查方法
- GB/T 34269-2017 飼料原料顯微鏡檢查圖譜
- GB/T 32262-2015 用于原子力顯微鏡檢測的脫氧核糖核酸樣品的制備方法
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關(guān)人工標準指南
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關(guān)物品的指南
- ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標準指南
- ASTM E2530-06 用Si(111)單原子層級對原子力顯微鏡進行次納米位移級的Z倍率校準的標準規(guī)程
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關(guān)物品的標準指南
德國標準化學會，關(guān)于原子力顯微鏡檢定規(guī)程的標準
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術(shù) 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進行粒子測量的準備和評估方法
