x射線 結晶 度 分析
本專題涉及x射線 結晶 度 分析的標準有79條。
國際標準分類中，x射線 結晶 度 分析涉及到無機化學、塑料、化工產品、教育、粒度分析、篩分、空氣質量、分析化學、涂料配料、詞匯、無損檢測、光學和光學測量、半導體材料、金屬材料試驗、黑色金屬、絕緣流體、陶瓷、有色金屬。
在中國標準分類中，x射線 結晶 度 分析涉及到無機化工原料綜合、合成樹脂、塑料基礎標準與通用方法、其他化工產品綜合、教學專用儀器、、物質成份分析儀器與環境監測儀器綜合、無機鹽、教育、學位、學銜、化學試劑綜合、顏料基礎標準與通用方法、工業防塵防毒技術、物理學與力學、涂料基礎標準與通用方法、基礎標準與通用方法、催化劑、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯用裝置、篩分、篩板與篩網、大氣環境有毒害物質分析方法、半金屬與半導體材料綜合、金屬物理性能試驗方法、化學計量、金屬化學性能試驗方法、電離輻射計量、輕金屬及其合金分析方法、電子光學與其他物理光學儀器。
國家質檢總局，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- GB/T 30904-2014 無機化工產品 晶型結構分析 X射線衍射法
- GB/T 19421.1-2003 層狀結晶二硅酸鈉試驗方法 δ相層狀結晶二硅酸鈉定性分析 X射線衍射儀法
- GB/T 13388-2009 硅片參考面結晶學取向X射線測試方法
- GB/T 13388-1992 硅片參考面結晶學取向X射線測量方法
工業和信息化部，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- SH/T 1827-2019 塑料 結晶度的測定 X射線衍射法
- YS/T 1178-2017 鋁渣物相分析X射線衍射法
行業標準-能源，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- NB/SH/T 6024-2021 ZSM—5分子篩相對結晶度的測定 X射線衍射法
GSO，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- NB/SH/T 6058-2022 ZSM—22分子篩相對結晶度的測定 X射線衍射法
- NB/SH/T 0971-2018 SAPO-11分子篩相對結晶度的測定 粉末X射線衍射法
- OS GSO ISO 17867:2017 粒度分析 小角X射線散射
- GSO ISO 17867:2017 粒度分析 小角X射線散射
- BH GSO ISO 16258-2:2022 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
- GSO ISO 16258-2:2021 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
- GSO ISO 16258-1:2021 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅 第1部分：直接過濾法
- BH GSO ISO 16258-1:2022 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅 第1部分：直接過濾法
- BH GSO ISO 13424:2017 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果報告
- OS GSO ISO 13424:2015 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果報告
- GSO ISO 13424:2015 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果報告
行業標準-教育，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結構分析方法通則
- JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結構分析方法通則
- JY/T 0587-2020 多晶體X射線衍射方法通則
國際標準化組織，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- ISO 17867:2020 粒度分析.小角度X射線散射（SAXS）
- ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角度X射線濺射法
- ISO 16258-2:2015 工作場所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅. 第2部分: 間接分析法
- ISO 17867:2015 粒徑分析. 小角X射線散射
- ISO 16258-1:2015 工作場所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅. 第1部分: 直接過濾法
- ISO 22278:2020 精細陶瓷（高級陶瓷 高級工業陶瓷）.用平行X射線束X射線衍射法測定單晶薄膜（晶片）結晶質量的試驗方法
- ISO 13424:2013 表面化學分析——X射線光電子能譜；薄膜分析結果的報告
未注明發布機構，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- JIS Z 8891:2023 粒度分析 小角度 X 射線散射 (SAXS)
英國標準學會，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X射線散射法
- BS ISO 17867:2020 粒度分析 小角 X 射線散射 (SAXS)
- BS DD ISO/TS 13762:2002 粒徑分析.小角度X射線散射法
- BS ISO 17867:2015 粒徑分析. 小角X射線散射
- BS ISO 22278:2020 精細陶瓷（先進陶瓷、先進技術陶瓷） 采用平行X射線束X射線衍射法測定單晶薄膜（晶片）結晶質量的測試方法
SCC，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- DANSK DS/ISO 17867:2020 粒度分析 小角 X 射線散射 (SAXS)
- BS DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X射線散射法
- DIN 51418-2 E:2014 X 射線光譜測定 X 射線發射和 X 射線熒光分析 (XRF) 第2部分：測量、校準和結果評估的定義和基本原則 草案
PT-IPQ，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- E E 14-1971 X射線衍射分析
法國標準化協會，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
- NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 無損檢測.術語.第11部分:多結晶和非結晶材料中X射線衍射用術語
- NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅 第1部分：直接過濾法
- NF T25-111-3:1991 碳纖維-織構和結構-第3部分：X 射線衍射的方位角分析
- NF ISO 16258-2:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射測定結晶二氧化硅的可吸入部分 第2部分：間接分析方法
韓國科技標準局，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- KS M 0043-2009 X射線衍射分析法
- KS M 0043-2009(2019) X射線衍射分析的一般規則
- KS M 0017-2010 X射線熒光分析法通則
美國材料與試驗協會，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- ASTM D5380-93(2009) 用X射線繞射分析識別涂料中結晶顏料和填充劑的標準試驗方法
- ASTM D5380-93(2003) 通過X射線衍射分析鑒定涂料中結晶顏料和擴展劑的標準測試方法
- ASTM D5380-93(2021) 通過X射線衍射分析鑒定涂料中結晶顏料和擴展劑的標準測試方法
- ASTM D5380-93(1998) 用X射線繞射分析法鑒定涂料中結晶顏料和填充劑的標準試驗方法
- ASTM D5357-03(2013) 用X射線衍射法測定沸石鈉相對結晶度的標準試驗方法
- ASTM D5758-01(2007)e1 X射線繞射法測定沸石ZSM-5相對結晶度的標準試驗方法
- ASTM D5357-98 用X射線衍射法測定沸石鈉相對結晶度的標準試驗方法
- ASTM D8352-20 用X射線衍射法測定β沸石相對結晶度的標準試驗方法
- ASTM D5357-03(2008)e1 用X射線衍射法測定沸石鈉相對結晶度的標準試驗方法
- ASTM D5758-01 X射線繞射法測定沸石ZSM-5相對結晶度的標準試驗方法
- ASTM D5357-19 X射線衍射法測定A型沸石鈉相對結晶度的標準試驗方法
- ASTM D5357-03 X射線衍射法測定A型沸石鈉相對結晶度的標準試驗方法
- ASTM D5758-01(2021) 通過X射線衍射測定沸石ZSM-5的相對結晶度的標準測試方法
- ASTM D5758-01(2011)e1 使用X射線衍射法測定沸石ZSM-5相對結晶度的的標準試驗方法
- ASTM D5758-01(2015) 通過X射線衍射法測定ZSM-5沸石的相對結晶度的標準試驗方法
- ASTM RR-D32-1036 1993 D5357-通過X射線衍射測定A型沸石鈉相對結晶度的標準測試方法
行業標準-機械，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- JB/T 5482-2011 X射線晶體定向儀
- JB/T 9401-1999 側窗熒光分析X射線管
KR-KS，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化學分析-全反射X射線熒光分析儀測定硅晶片表面元素雜質
RU-GOST R，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- GOST R ISO 16258-1-2017 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅 第 1 部分. 直接過濾法
- GOST 28033-1989 鋼.X射線熒光分析法
- GOST 16865-1979 X射線結構和光譜分析裝置.術語和定義
德國標準化學會，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- DIN 51418-2 Bb.1:2000 X射線光度法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第2部分:定義和測量、校準及對結果評定的基本原理.附加信息和計算范例
- DIN 51418-2:2015-03 X 射線光譜測定 X 射線發射和 X 射線熒光分析(XRF)第2部分：測量、校準和結果評估的定義和基本原則
- DIN 51418-2:2015 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準及評估的基本原則
- DIN 51418-2:1996 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準及評估的基本原則
- DIN 51418-1:2008 X射線光譜測定法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第1部分:定義和基本原理
國家計量檢定規程，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- JJG 629-1989 多晶X射線衍射儀檢定規程
- JJG(地質) 1014-1990 多晶X-射線衍射儀檢定規程
- JJG 629-2014 多晶X射線衍射儀檢定規程
行業標準-有色金屬，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- YS/T 785-2012 NaA型沸石相對結晶度測定方法.X衍射法
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- GB/T 34612-2017 藍寶石晶體X射線雙晶衍射搖擺曲線測量方法
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線 結晶 度 分析的標準
- GB/T 36401-2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告
