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Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano, Total: 102 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano son: óptica y medidas ópticas., Química analítica, Educación, Metales no ferrosos, Protección de radiación, Fotografía, Refractarios, Pruebas no destructivas, pruebas de metales, Plástica, Productos de la industria química., muelles, Metales ferrosos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Materiales para el refuerzo de composites., Calidad del aire, Materiales de construcción, químicos inorgánicos, Cerámica, Materiales semiconductores, Alambres y cables eléctricos., Tratamiento superficial y revestimiento..


Professional Standard - Machinery, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
  • JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
  • JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
  • JB/T 8426-1996 Revestimiento metálico. Método de prueba de difracción de rayos X para recubrimientos de aleación de níquel-fósforo

Professional Standard - Agriculture, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

PT-IPQ, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
  • KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
  • KS D ISO 17054-2023 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
  • KS C 3612-2008 Cables de alta tensión para aparatos de rayos X.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • ASTM UOP905-91 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
  • ASTM UOP905-08 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
  • ASTM UOP905-20 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
  • ASTM E1426-14(2019)e1 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X

SCC, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • VDI/VDE 5575 BLATT 10-2019 Sistemas ópticos de rayos X - rejillas de difracción
  • DANSK DS/EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
  • NS-EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensión residual mediante difracción de rayos X
  • AENOR UNE-EN 15305:2010 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
  • DANSK DS/EN 15305/AC:2009 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X

Universal Oil Products Company?(UOP), Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • UOP 905-2008 Aglomeración de platino por difracción de rayos X

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

Professional Standard - Education, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
  • JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio

工業(yè)和信息化部, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
  • YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
  • SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
  • YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
  • YB/T 5360-2020 Determinación de cifras polares cuantitativas de materiales metálicos mediante el método de difracción de rayos X.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

SAE - SAE International, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • SAE J784A-1971 Medición de tensión residual mediante difracción de rayos X

Society of Automotive Engineers (SAE), Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • SAE J784-1971 Medición de tensión residual mediante difracción de rayos X
  • SAE HS-784-2003 Medición de tensión residual SAE mediante difracción de rayos X, edición de 2003

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
  • YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
  • YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos
  • YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
  • YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • SN/T 4760-2017 Método de difracción de rayos X para la identificación de concentrados de zinc importados

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
  • GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
  • GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
  • GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
  • GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
  • GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
  • GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
  • GB/T 24576-2009 Método de prueba para medir la fracción de Al en sustratos de AlGaAs mediante difracción de rayos X de alta resolución

RU-GOST R, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • GOST 22091.7-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir la uniformidad de la distribución de la densidad de energía de los rayos X sobre la cobertura de rayos X.
  • GOST 22091.3-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir el campo de radiación y el ángulo del haz de radiación X.

Professional Standard - Commodity Inspection, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • SN/T 3975-2014 El método de identificación del mineral de bauxita es el método de difracción de rayos X.
  • SN/T 4008-2013 Detección cualitativa rápida de talco en polvo. Método de difracción de rayos X en polvo.

Professional Standard - Public Safety Standards, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • GA/T 2079-2023 Ciencia forense Pruebas de minerales Difracción de rayos X
  • GA/T 1422-2017 Método de difracción de rayos X para examinar la composición de fuegos y explosivos comunes en ciencias forenses

American National Standards Institute （ANSI), Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
  • ANSI/ASTM E1426:1994 Método de prueba para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
  • ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales

水利部, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • SL 536-2011 Método de calibración del dispositivo de medición de tensión por difracción de rayos X.
  • SL 547-2011 Método de prueba para la tensión residual de estructuras metálicas hidráulicas. Método de difracción de rayos X.

Group Standards of the People's Republic of China, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • T/CASAS 014-2021 Método de medición para la flexión del plano basal de un sustrato de SiC. Difractometría de rayos X de alta resolución.
  • T/CSTM 00166.2-2020 Caracterización de materiales de grafeno Parte 2 Difracción de rayos X

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.
  • GB/T 39520-2020 Método de prueba para determinar la tensión residual del resorte mediante difracción de rayos X.
  • GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
  • GB/T 40407-2021 Método de análisis de difracción de rayos X en polvo para determinar las fases en el clinker de cemento portland

GOST, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • GOST R 50152-1992 Alúmina. Método de difracción de rayos X para determinar el óxido de aluminio alfa.

GOSTR, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • GOST 6912.2-1993 Alúmina. Método difraccial de rayos X para la determinación de alfa-óxido-aluminio

Professional Standard - Nuclear Industry, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo

KR-KS, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • KS D ISO 17054-2018(2023) Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

Standard Association of Australia （SAA）, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • AS 2879.3:1991 Alúmina - Determinación del contenido de alfa alúmina mediante difracción de rayos X
  • AS 2879.3:2010(R2013) Alúmina - Determinación del contenido de alfa alúmina mediante difracción de rayos X

Association Francaise de Normalisation, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • NF A09-282:2019 Ensayos no destructivos - Cuantificación de fases mediante difracción de rayos X
  • NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X

British Standards Institution (BSI), Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • BS ISO 16258-1:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método directo en filtro
  • BS ISO 16258-2:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método por análisis indirecto.
  • BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
  • BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
  • BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
  • BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
  • BS EN 15305:2008(2009) Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensión residual mediante difracción de rayos X

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

Professional Standard - Energy, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
  • NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
  • NB/SH/T 6024-2021 Determinación de la cristalinidad relativa del método de difracción de rayos X de tamiz molecular ZSM-5
  • NB/SH/T 0339-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X de tamiz molecular de faujasita

GSO, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • GSO ISO 17054:2016 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
  • OS GSO ISO 17054:2016 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
  • BH GSO ISO 17054:2017 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
  • NB/SH/T 6058-2022 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular ZSM-22 mediante el método de difracción de rayos X
  • NB/SH/T 0972-2018 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular SAPO-11 mediante el método de difracción de rayos X en polvo

International Organization for Standardization (ISO), Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

German Institute for Standardization, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
  • DIN EN 15305:2009-01 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008

Professional Standard - Petroleum, Difracción de rayos X de alta energía de campo cercano

  • SY/T 5983-1994 Método de identificación por difracción de rayos X de minerales de capas intermedias de illita/esmectita
  • SY/T 5163-1995 Método de análisis de difracción de rayos X para el contenido relativo de minerales arcillosos en rocas sedimentarias


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