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Medidor de superficie óptico

Medidor de superficie óptico, Total: 199 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Medidor de superficie óptico son: Equipo óptico, Dibujos tecnicos, óptica y medidas ópticas., Materiales de construcción, Química analítica, Tecnología gráfica, Construcción naval y estructuras marinas en general, Educación, Equipo medico, Medidas lineales y angulares., Pinturas y barnices, Tratamiento superficial y revestimiento., Horología, Vocabularios, Metrología y medición en general., Equipo de minería, Protección de radiación, Roscas de tornillo.


SCC, Medidor de superficie óptico

  • BS ISO 14997:2003 óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • BS ISO 10110-7:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos para elementos y sistemas ópticos-Tolerancias de imperfecciones superficiales.
  • BS ISO 10110-8:1997 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Textura superficial.
  • BS ISO 10110-5:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos para elementos y sistemas ópticos-Tolerancias de forma de superficies.
  • BS EN ISO 7998:1996 óptica e instrumentos ópticos. Monturas de gafas. Vocabulario y listas de términos equivalentes.
  • BS ISO 10110-12:1997 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos para elementos y sistemas ópticos-Superficies asféricas.
  • DANSK DS/ISO 7921:2024 óptica e instrumentos oftálmicos – Cartas de lectura cercana
  • DIN ISO 10110-5 Supplement 1 E:2002 Borrador de documento - óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos - Parte 5: Tolerancias de forma de superficies; Inspección de tolerancia de forma de superficie utilizando gafas de prueba.
  • BS ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de básculas de energía.
  • NS-EN ISO 9341:1998 óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de inclusiones e imperfecciones superficiales para lentes de contacto rígidas (ISO 9341:1996).
  • ISO 15472:2001/DAmd 1 Análisis químico de superficies. Espectrómetros fotoelectrónicos de rayos X. Calibración energética. Enmienda 1.
  • BS ISO 10110-10:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Tabla que representa datos de un elemento de lente.
  • VDI/VDE 5596 BLATT 2:2022 Desarrollo de ópticas orientadas a la producción. ópticas de iluminación, ópticas sin imágenes y ópticas de forma libre. Superficies ópticas.
  • BS PD ISO/TR 14997-2:2022 óptica y fotónica. Métodos de prueba para imperfecciones superficiales de elementos ópticos-Visión artificial
  • NS-EN ISO 7998:1996 óptica e instrumentos ópticos. Monturas de gafas. Vocabulario y listas de términos equivalentes (ISO 7998:1994).
  • DIN EN ISO 7921:2024 óptica e instrumentos oftálmicos - Cartas de lectura cercana (ISO 7921:2024); Versión alemana EN ISO 7921:2024
  • DANSK DS/EN ISO 7921:2024 óptica e instrumentos oftálmicos – Cartas de lectura cercana (ISO 7921:2024)
  • BS ISO 9211-2:1994 óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos-Propiedades ópticas

International Organization for Standardization (ISO), Medidor de superficie óptico

  • ISO 14997:2017 óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • ISO 14997:2003 óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • ISO 14997:2011 óptica y fotónica. Métodos de ensayo para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • ISO 10110-12:1997 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas.
  • ISO 15368:2001 óptica e instrumentos ópticos - Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos
  • ISO 10110-8:1997 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 8: Textura superficial.
  • ISO 10110-7:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 7: Tolerancias de imperfecciones superficiales.
  • ISO 10110-5:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: Tolerancias de forma de superficies.
  • ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 10110-5:1996/Cor 1:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de dibujos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: Tolerancias de forma de superficies; Corrigendum técnico 1
  • ISO 10110-9:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 9: Tratamiento y revestimiento de superficies.
  • ISO 10110-7:2017 óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 7: Tolerancias de imperfecciones superficiales.
  • ISO 8598:1996/Cor 1:1998 óptica e instrumentos ópticos - Focímetros; Corrección técnica 1
  • ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
  • ISO 10110-8:2010 óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 8: Textura superficial; rugosidad y ondulación
  • ISO 7944:1998/Cor 1:2009 óptica e instrumentos ópticos - Longitudes de onda de referencia; Corrigendum técnico 1
  • ISO/DIS 7921 óptica e instrumentos oftálmicos — Cartas de visión de cerca
  • ISO/FDIS 7921:2011 óptica e instrumentos oftálmicos: gráficos de lectura cercana
  • ISO 9341:1996 óptica e instrumentos ópticos - Lentes de contacto - Determinación de inclusiones e imperfecciones superficiales para lentes de contacto rígidas
  • ISO 10110-12:2007 óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 12: Superficies asféricas
  • ISO 17123-9:2018 óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 9: Escáneres láser terrestres.
  • ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO/CD 17123-6:2023 óptica e instrumentos ópticos.
  • ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • ISO 15368:2021 óptica e instrumentos ópticos. Medición de la reflectancia de superficies planas y la transmitancia de elementos planos paralelos.
  • ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Medidor de superficie óptico

  • KS B ISO 14997:2004 óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • KS B ISO 14997:2014 óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • KS B ISO 10110-12:2013 óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas.
  • KS B ISO 10110-12:2008 óptica e instrumentos ópticos-Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos-Parte 12:Superficies asféricas
  • KS B ISO 15368-2006(2021) óptica e instrumentos ópticos. Medición de la reflectancia de superficies planas y la transmitancia de elementos planos paralelos.
  • KS B ISO 15368:2006 óptica e instrumentos ópticos-Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos
  • KS B ISO 10110-8:2017 óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 8: Textura de la superficie
  • KS B ISO 10110-8-2022 óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 8: Textura de la superficie
  • KS B ISO 10110-8-2017(2022) óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 8: Textura de la superficie
  • KS B ISO 10110-7:2007 óptica e instrumentos ópticos －Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos －Parte 7: Tolerancias de imperfecciones de la superficie
  • KS B ISO 10110-5:2013 óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 5: Tolerancias de forma de superficies.
  • KS B ISO 10110-5:2008 óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 5: Tolerancias de forma de superficies
  • KS B ISO 10110-7-2022 óptica e instrumentos ópticos －Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos －Parte 7: Tolerancias de imperfecciones de la superficie
  • KS B ISO 10110-7:2017 óptica e instrumentos ópticos －Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos －Parte 7: Tolerancias de imperfecciones de la superficie
  • KS B ISO 10110-7-2017(2022) óptica e instrumentos ópticos －Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos －Parte 7: Tolerancias de imperfecciones de la superficie
  • KS B ISO 10110-9:2007 óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 9:Tratamiento y revestimiento de superficies
  • KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
  • KS B ISO 10110-9:2017 óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 9:Tratamiento y revestimiento de superficies
  • KS B ISO 10110-9-2022 óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 9:Tratamiento y revestimiento de superficies
  • KS B ISO 10110-9-2017(2022) óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 9:Tratamiento y revestimiento de superficies
  • KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • KS B ISO 10110-8:2007 óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 8: Textura de la superficie
  • KS B ISO 12857-2-2002(2017) óptica e instrumentos ópticos－Instrumentos geodésicos－Procedimientos de campo para determinar la precisión－Parte 2: Teodolitos
  • KS B ISO 14997:2019 óptica y fotónica. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • KS B 0506-1975 Instrumentos para la Medición de Rugosidad Superficial por el Método Interferométrico
  • KS B 0503-1976 Instrumentos para la medición de rugosidad superficial (por método de corte ligero)
  • KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
  • KS B ISO 15368-2021 óptica e instrumentos ópticos. Medición de la reflectancia de superficies planas y la transmitancia de elementos planos paralelos.
  • KS B ISO 9849:2002 óptica e instrumentos ópticos－Instrumentos geodésicos－Vocabulario
  • KS B ISO 15368-2006(2016) óptica e instrumentos ópticos. Medición de la reflectancia de superficies planas y la transmitancia de elementos planos paralelos.
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 15470-2020 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS B ISO 11381-2013(2018) óptica e instrumentos ópticos ― óptica oftálmica ― roscas de tornillos

British Standards Institution (BSI), Medidor de superficie óptico

  • BS ISO 10110-8:1998 óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Textura superficial
  • BS ISO 10110-8:2010 óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Textura de superficie; rugosidad y ondulación
  • BS ISO 10110-9:1996 óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Tratamiento y revestimiento de superficies
  • BS ISO 9022-4:1995 óptica e instrumentos ópticos - Métodos de prueba ambientales - Niebla salina
  • BS ISO 9022-3:1995 óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba ambientales. Estres mecanico
  • BS EN ISO 9341:1998 óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de inclusiones e imperfecciones superficiales para lentes de contacto rígidas.
  • BS ISO 17123-9:2018 óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos - Escáneres láser terrestres
  • BS EN ISO 7921:2024 óptica e instrumentos oftálmicos. Cerca de gráficos de lectura
  • BS ISO 14997:2011 óptica y fotónica. Métodos de prueba para imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • BS ISO 14997:2017 Cambios rastreados. óptica y fotónica. Métodos de prueba para imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
  • BS ISO 10110-7:2008 óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Tolerancias de imperfecciones superficiales
  • BS ISO 9022-2:1995 óptica e instrumentos ópticos - Métodos de prueba ambientales - Frío, calor, humedad
  • BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • BS ISO 10110-16:2023 óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Superficies difractivas
  • BS ISO 10110-7:2017 Cambios rastreados. óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Imperfecciones superficiales
  • BS ISO 10110-8:2019 óptica y fotónica. Elaboración de planos para elementos y sistemas ópticos - Textura superficial.
  • BS ISO 15368:2001 óptica e instrumentos ópticos - Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos
  • BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • PD ISO/TR 14997-2:2022 óptica y fotónica. Métodos de ensayo para imperfecciones superficiales de elementos ópticos. Visión de máquina
  • BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • BS ISO 10110-5:2007 óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Tolerancias de forma de superficies
  • BS ISO 9211-2:1995 óptica e instrumentos ópticos - Recubrimientos ópticos - Propiedades ópticas
  • BS ISO 10110-5:2015 Cambios rastreados. óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Tolerancias de forma de superficie
  • BS EN ISO 8598-1:2014 óptica e instrumentos ópticos. Focímetros. Instrumentos de uso general

Association Francaise de Normalisation, Medidor de superficie óptico

  • NF S10-008-12:1998 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 12: superficies asféricas.
  • NF S10-008-8:1998 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 8: textura superficial.
  • NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
  • NF S10-008-7:2008 óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 7: Tolerancias de imperfecciones superficiales.
  • NF S10-008-5:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: tolerancias de forma de la superficie.
  • NF S10-008-7:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 7: tolerancias de imperfecciones superficiales.
  • NF S10-008-9:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 9: tratamiento superficial y revestimiento.
  • NF S10-049:2003 óptica e instrumentos ópticos - Medida de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos.
  • NF S10-046*NF ISO 14997:2017 óptica y fotónica. Métodos de ensayo para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • NF S10-046:2012 óptica y fotónica - Métodos de ensayo para imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • NF S86-305:1996 Horología. Instrumentos radioluminiscentes para medir el tiempo.
  • NF S86-305:2014 Relojería - Instrumentos radioluminiscentes para medir el tiempo
  • NF S11-500:1996 óptica e instrumentos ópticos. Monturas de gafas. Vocabulario y listas de términos equivalentes.
  • NF S11-686:1998 óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de inclusiones e imperfecciones superficiales para lentes de contacto rígidas.
  • NF S10-008-12:2007 óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 12: superficies asféricas.
  • NF ISO 14997:2017 óptica y fotónica. Métodos de ensayo para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • NF S10-008-12/A1:2013 óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 12: superficies asféricas - ENMIENDA 1
  • NF S10-008-10:1996 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 10: tabla que representa datos de un elemento de lente.
  • NF ISO 10110-8:2020 óptica y fotónica. Indicaciones en los planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 8: acabado superficial.

KR-KS, Medidor de superficie óptico

  • KS D ISO 14707-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia de emisión de descarga luminosa (GD-OES) - Introducción
  • KS B ISO 10110-8-2017 óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 8: Textura de la superficie
  • KS B ISO 10110-7-2017 óptica e instrumentos ópticos －Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos －Parte 7: Tolerancias de imperfecciones de la superficie
  • KS B ISO 10110-9-2017 óptica e instrumentos ópticos－Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos－Parte 9:Tratamiento y revestimiento de superficies
  • KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • KS B ISO 14997-2019 óptica y fotónica. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía

Defense Logistics Agency, Medidor de superficie óptico

German Institute for Standardization, Medidor de superficie óptico

  • DIN ISO 10110-5 Bb.1:2003 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de dibujos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: Tolerancias de forma de superficies; Inspección de tolerancia de forma de superficie utilizando gafas de prueba.
  • DIN ISO 10110-9:2000 óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 9: Tratamiento y revestimiento de superficies (ISO 10110-9:1996)
  • DIN ISO 15472 E:2019-09 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • DIN ISO 14997 E:2016-08 óptica y fotónica. Métodos de ensayo para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • DIN ISO 10110-8:2012 óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 8: Textura superficial; rugosidad y ondulación (ISO 10110-8:2010)
  • DIN ISO 10110-12 E:2021-03 óptica y Fotónica - Creación de dibujos para elementos y sistemas ópticos - Parte 12: Superficies asféricas
  • DIN ISO 10110-12 E:2015-06 óptica y Fotónica - Creación de dibujos para elementos y sistemas ópticos - Parte 12: Superficies asféricas
  • DIN ISO 10110-12:2009 óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas (ISO 10110-12:2007); Versión en inglés de DIN ISO 10110-12:2009-01
  • DIN ISO 14997:2018 óptica y fotónica. Métodos de prueba para imperfecciones superficiales de elementos ópticos (ISO 14997:2017)
  • DIN ISO 14997:2013 óptica y fotónica. Métodos de ensayo para imperfecciones superficiales de elementos ópticos (ISO 14997:2011)
  • DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles

RU-GOST R, Medidor de superficie óptico

  • GOST 9847-1979 Instrumentos ópticos para la medición de parámetros de rugosidad superficial. Parámetros y tipos básicos.
  • GOST R 50606-1993 óptica e instrumentos ópticos. Dioptrímetros
  • GOST R 59420-2021 óptica y fotónica. Elementos ópticos. Defectos superficiales. Control visual
  • GOST 8.661-2018 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Programa de verificación estatal para instrumentos que miden parámetros de planitud de superficies ópticas de hasta 200 mm
  • GOST 19300-1986 Instrumentos para la medición de rugosidad superficial por el método del perfil. Contacte con perfilógrafos y perfilómetros. Tipos y parámetros principales.
  • GOST 11141-1984 Piezas ópticas. Clases de limpieza de superficies ópticas. Métodos de control

GSO, Medidor de superficie óptico

  • OS GSO ISO 10110-9:2014 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 9: Tratamiento y revestimiento de superficies.
  • GSO ISO 10110-9:2014 óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 9: Tratamiento y revestimiento de superficies.
  • GSO ISO 17123-7:2007 óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 7: Instrumentos ópticos de plomería.
  • GSO ISO 14997:2015 óptica y fotónica. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • OS GSO ISO 14997:2015 óptica y fotónica. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • BH GSO ISO 15472:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • OS GSO ISO 15368:2015 óptica e instrumentos ópticos -- Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos
  • GSO ISO 15368:2015 óptica e instrumentos ópticos -- Medición de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos
  • BH GSO ISO 8037-2:2016 óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Portaobjetos -- Parte 2: Calidad del material, normas de acabado y modo de embalaje
  • OS GSO ISO 8037-2:2014 óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Portaobjetos -- Parte 2: Calidad del material, normas de acabado y modo de embalaje
  • OS GSO ISO 21270:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • GSO ISO 21270:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • BH GSO ISO 21270:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad

DIN, Medidor de superficie óptico

  • DIN ISO 10110-8:2000 óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 8: Textura superficial (ISO 10110-8:1997)

Professional Standard-Ships, Medidor de superficie óptico

  • CB 1085.6-1989 Cuota de horas-hombre para la fabricación de instrumentación Procesamiento de piezas ópticas y ensamblaje de instrumentos ópticos

Professional Standard - Education, Medidor de superficie óptico

  • JY/T 0430-2011 Vidrio de reloj para instrumentos de vidrio para la ense?anza.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Medidor de superficie óptico

  • GB/T 1185-2006 Imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • GB/T 1185-1989 Imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • GB/T 28892-2024 Análisis químico de superficies Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X Expresión de parámetros de rendimiento del instrumento seleccionado
  • GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
  • GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
  • GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • GB/T 29788-2013 Instrumentación de protección radiológica. Medidores y monitores portátiles de contaminación por fotones.

European Committee for Standardization (CEN), Medidor de superficie óptico

  • EN ISO 9341:1998 óptica e Instrumentos ópticos - Lentes de Contacto - Determinación de Inclusiones e Imperfecciones Superficiales para Lentes de Contacto Rígidas ISO 9341:1996
  • EN ISO 7921:2024 óptica e instrumentos oftálmicos - Cartas de lectura cercana (ISO 7921:2024)

PL-PKN, Medidor de superficie óptico

  • PN Z53100-1992 óptica e instrumentos ópticos. Monturas de gafas. Vocabulario y listas de términos equivalentes.

Standard Association of Australia （SAA）, Medidor de superficie óptico

  • AS ISO 15470:2006(R2016) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Professional Standard - Military and Civilian Products, Medidor de superficie óptico

  • WJ 467-1995 Recubrimientos metálicos y no metálicos Preparación de superficies previas a la pintura para instrumentos ópticos
  • WJ 1251-1980 Herramienta general para el montaje de instrumentos ópticos. Martillo de reloj.
  • WJ 1231-1980 Herramienta universal para montaje de instrumentos ópticos. Controlador de reloj.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Medidor de superficie óptico

  • JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, Medidor de superficie óptico

  • GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.

HU-MSZT, Medidor de superficie óptico

  • MSZ KGST 183-1975 M?TERMENET N?VLEGES MENET?TM?R?JE ?S MENETEMELKED?SE AZ OPTIKAI-FINOMMECHANIKAI IPAR SZAMARA

Spanish Association for Standardization (UNE), Medidor de superficie óptico

  • UNE-EN ISO 9341:1999 óPTICA E INSTRUMENTOS óPTICOS. LENTES DE CONTACTO. DETERMINACIóN DE INCLUSIONES E IMPERFECCIONES SUPERFICIALES PARA LENTES DE CONTACTO RíGIDAS. (ISO 9341:1996).

Professional Standard - Medicine, Medidor de superficie óptico

  • YY/T 1418-2016 óptica e instrumentos oftálmicos. Notificación de aberraciones del ojo humano.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Medidor de superficie óptico

  • GJB 9247-2017 Método de detección de no uniformidad óptica de vidrio óptico Método de múltiples superficies de interferencia plana

BR-ABNT, Medidor de superficie óptico

Professional Standard - Geology, Medidor de superficie óptico

  • DZ 57.13-1987 Procesamiento de piezas ópticas con cuota de tiempo para la industria de instrumentación geológica

RO-ASRO, Medidor de superficie óptico

Aerospace Industries Association, Medidor de superficie óptico

  • AIA NAS 883-1982 Objetivos de espejo: superficie frontal de herramientas ópticas y plano-paralelo

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., Medidor de superficie óptico

  • NAS883-1982 Objetivos de espejo: superficie frontal de herramientas ópticas y plano-paralelo

SG-SPRING SG, Medidor de superficie óptico

  • SS 373 Pt.7-1994 Especificación para óptica e instrumentos ópticos - lentes de contacto Parte 7: Determinación de inclusiones e imperfecciones superficiales de lentes de contacto rígidas


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