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漏れ電流試験方法

漏れ電流試験方法は全部で 5 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

漏れ電流試験方法 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)において、これらの分類(lèi)：電子管。

Professional Standard - Electron, 漏れ電流試験方法

• SJ 1389-1978 ノイズダイオードの電極間漏れ電流試験方法
• SJ 366-1973 反射クライストロンの電極間の漏れ電流の試験方法
• SJ 363-1973 反射クライストロンの総反射鏡電流、反射鏡イオン流、および反射鏡漏れ電流の試験方法
• SJ 421-1973 低雑音進(jìn)行波管の終端陽(yáng)極と各極間の漏れ電流の試験方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 漏れ電流試験方法

• ASTM F769-00 トランジスタおよびダイオードの漏れ電流を測(cè)定するための標(biāo)準(zhǔn)試験方法 (2006 年に廃止)

その他：   光電流試験方法, 光電流試験方法, 真空系リーク量試験方法, 接觸電流試験方法, 暗電流試験方法, 現(xiàn)在の試験方法, 高周波通電試験方法, 漏れ電流試験方法, 光電流試験方法, 光電流をテストする方法, 光電流をテストする方法, 光電流試験方法, 接觸電流の試験方法, 接觸電流試験方法, 瞬時(shí)電流試験方法, 瞬時(shí)電流試験方法, 光電流試験方法, 瞬時(shí)電流試験方法, 光電流試験方法, 真空系リーク量試験方法.