共找到 150 條與 衍射表面 相關的標準，共 10 頁
本文件提供了在光學表面（如平面、球面、非球面或一般光學表面）上添加衍射光學功能的一般描述方法，屬于ISO 10110系列，該系列標準化了光學元件和系統的圖紙標注。本文件的主題是技術圖紙中衍射表面的呈現、描述和尺寸標注。 本文件不適用于具有隨機表面紋理的衍射表面，例如隨機抗反射結構。本文件也不涉及所有
Optics and photonics. Preparation of drawings for optical elements and systems. Diffractive surfaces
Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 16 : diffractive surfaces
This document provides general methods of describing surfaces adding a diffractive optical function on optical surfaces, such as planes, spheres
Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 16 : diffractive surfaces
This document provides general methods of describing surfaces adding a diffractive optical function on optical surfaces, such as planes, spheres
Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 16: Diffractive surfaces
Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 16: Diffractive surfaces
BS ISO 10110-16. Optics and photonics. Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 16. Diffractive surfaces
Draft Document - Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 16: Diffractive surfaces (ISO 10110-16:2023); Text in German and English
本標準規定了用X射線衍射法測定航空發動機葉片表面殘余應力的一般要求、測試程序、結果評定、測試報告、安全與防護等內容。本標準適用于多晶材料葉片表面殘余應力的X射線衍射測定,不適用于具有強烈擇優取向生長的多晶葉片和單晶葉片表面殘余應力的X射線衍射測定
Test method for residual stress analysis on aero-engine blade by x-ray diffraction
本標準規定了采用X-射線衍射法快速鑒別膠乳制品表面殘余礦物粉末的試驗方法。本標準適用于避孕套與乳膠手套等膠乳制品表面殘余礦物粉末(滑石粉、碳酸鈣)的快速鑒別
Rapid identification of the surface residual mineral powder on latex products—X-ray diffraction spectrometry
碳化硅（SiC）具有高臨界擊穿場強、高的熱導率、高電子飽和漂移速率、優越的機械特性和物理、化學穩定性等特點，可用于制作高溫大功率器件。使用碳化硅作為襯底生長器件結構時，襯底質量對外延層的質量起決定性作用。大尺寸碳化硅單晶常常呈現基平面的搖擺曲線衍射峰位隨著單晶直徑衍射位置的改變而變化的現象，這種衍射
Measuring method for basal plane bending of SiC substrate — High resolution X-ray diffractometry
X-ray test method of aluminum alloy surface residual stress
本標準規定了電子背散射衍射分析方法。 本標準適用于安裝了電子背散射衍射附件的電子束顯微分析儀進行物相的鑒定、晶體取向、顯微織構以及晶界特性等方面的分析
General guide for electron backscatter diffraction analysis
本標準規定了藍寶石晶體X射線雙晶衍射搖擺曲線的測量方法。 本標準適用于藍寶石晶體X射線雙晶衍射搖擺曲線的測量
Measurement method for X-ray double crystal diffraction rocking curve of sapphire crystals
利用X射線衍射儀測試半導體材料雙晶搖擺曲線半高寬，評價半導體單晶晶體質量的方法 適用于碳化硅、金剛石、氧化鎵等單晶材料晶體質量的測試 硅、砷化鎵、磷化銦等半導體材料晶體質量的測試也可參照
X-ray Diffraction Method for Testing the Quality of Semiconductor Single Crystal
本標準規定了電子背散射衍射分析方法”本標準適用于安裝了電子背散射衍射附件的掃描電鏡和電子探針進行物相識別、晶體取向、顯微織構以及晶界特性等方面的分析
Microbeam analysis.General guide for electron backscatter diffraction analysis
