當小晶體的尺寸和形狀基本一致時，計算結果比較可靠。但一般粉末試樣的具體大小都有一定的分布，謝樂的微晶尺度計算公式需修正，否則只能是近似結果。X射線衍射法是非破壞性檢測方法，測量的準確度還與樣品內部應力大小有關。 透射電子顯微鏡法是通過納米粒子在照片上的投影來直接反映顆粒的形貌與尺寸，故此法的優點是可直接觀察形貌和測定粒徑大小，具有一定的直觀性與可信性。...
TEM：透射電子顯微鏡法是通過納米粒子在照片上的投影來直接反映顆粒的形貌與尺寸，故此法的優點是可直接觀察形貌和測定粒徑大小，具有一定的直觀性與可信性。但是該法是對局部區域觀察的結果，所以有一定的偶然性及統計誤差，需要通過多幅照片利用一定數量粒子粒徑測量統計分析得到納米粒子的平均粒徑。...
根據材料顆粒度的不同，既可采用一般的光學顯微鏡，也可以采用電子顯微鏡。光學顯微鏡測定防衛為0.8~150?m，小于0.8?m者必須用電子顯微鏡觀察。掃描電鏡和透射電子顯微鏡常用于直接觀察大小在1nm~5?m范圍內的顆粒，適合納里材料的粒度大小和形貌分析。顯微鏡法可以了解在制備過程中顆粒的形狀，繪出特定表面的粒度分布圖，而不只是平均粒度的分布圖。...
根據材料顆粒度的不同，既可采用一般的光學顯微鏡，也可以采用電子顯微鏡。光學顯微鏡測定防衛為0.8~150?m，小于0.8?m者必須用電子顯微鏡觀察。掃描電鏡和透射電子顯微鏡常用于直接觀察大小在1nm~5?m范圍內的顆粒，適合納里材料的粒度大小和形貌分析。顯微鏡法可以了解在制備過程中顆粒的形狀，繪出特定表面的粒度分布圖，而不只是平均粒度的分布圖。...
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