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xps+ profundidad

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中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, xps+ profundidad

  • GB/T 34326-2017 Análisis químico de superficie—Perfiles de profundidad—Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de corriente o densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS

SCC, xps+ profundidad

  • 12/30241146 DC BS ISO 16531. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS

British Standards Institution (BSI), xps+ profundidad

  • BS ISO 16531:2020 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS




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