ZH
EN
KR
JP
ES
DE

xps+ глубина

xps+ глубина, Всего: 3 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к xps+ глубина, являются: Аналитическая химия.

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, xps+ глубина

• GB/T 34326-2017 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.

SCC, xps+ глубина

• 12/30241146 DC BS ISO 16531. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.

British Standards Institution (BSI), xps+ глубина

• BS ISO 16531:2020 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.

Другие:   XPS+??? ??3°???, xps+ пик, глубина, xps+, данные xps+, xps+пик, xps+калибровка, измерение xps+, xps+пик+, xps+ глубина, xps+калибровка+, XP+ поверхность, xps+ глубина поверхности, xps+ атом, спектр xps+, XP+кобальт, хпс + хпс, xps+ айс.