ASTM F448-18
測量穩態初級光電流的標準測試方法
Standard Test Method for Measuring Steady-State Primary Photocurrent
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- 標準號
- ASTM F448-18
- 發布
- 2018年
- 總頁數
- 7頁
- 發布單位
- 美國材料與試驗協會
- 當前最新
- ASTM F448-18
- 引用標準
- ASTM E668 ASTM F526
1.1 本測試方法涵蓋了半導體器件暴露于電離輻射時產生的穩態初級光電流 Ipp 的測量。這些程序旨在測量大于 10?9 A·s/Gy（Si 或 Ge）的光電流，此時被測器件的弛豫時間小于電離源脈沖寬度的 25% 。這些程序對于高達 108 Gy（Si 或 Ge）/s 的電離劑量率的有效性已經得到證實。該程序可用于劑量率高達 1010 Gy（Si 或 Ge）/...
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