KS D ISO 21270:2005
表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性

Surface chemical analysis－X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers－Linearity of intensity scale

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號

KS D ISO 21270:2005

發(fā)布

2005年

發(fā)布單位

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局

替代標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 21270-2020

當(dāng)前最新

KS D ISO 21270-2020

 

 

適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀的強(qiáng)度標(biāo)度線性度發(fā)散的允許限值。

專題

KS D ISO 21270:2005相似標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 21270:2005 中可能用到的儀器設(shè)備