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x射線能譜分析區(qū)域
本專題涉及x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)有376條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線能譜分析區(qū)域涉及到分析化學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測量、輻射測量、黑色金屬、光學(xué)設(shè)備、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量、詞匯、金屬材料試驗(yàn)、金屬礦、鋼鐵產(chǎn)品、地質(zhì)學(xué)、氣象學(xué)、水文學(xué)、有色金屬、耐火材料、無損檢測、長度和角度測量、電站綜合、鐵合金、建筑材料、核能工程、涂料配料、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、非金屬礦、無機(jī)化學(xué)、化工產(chǎn)品、廢物、燃料、紙和紙板、物理學(xué)、化學(xué)、醫(yī)療設(shè)備、實(shí)驗(yàn)室醫(yī)學(xué)、石油產(chǎn)品綜合、橡膠和塑料工業(yè)的生產(chǎn)工藝、表面處理和鍍涂、金屬的腐蝕、石油、石油產(chǎn)品和天然氣儲(chǔ)運(yùn)設(shè)備、燃燒器、鍋爐、犯罪行為防范、紡織產(chǎn)品。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線能譜分析區(qū)域涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、半導(dǎo)體分立器件綜合、鋼鐵與鐵合金分析方法、綜合測試系統(tǒng)、金屬化學(xué)分析方法綜合、化學(xué)、鐵礦、重金屬礦、地球科學(xué)、耐火材料綜合、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)設(shè)備、電力試驗(yàn)技術(shù)、稀有輕金屬及其合金、建材產(chǎn)品綜合、金屬無損檢驗(yàn)方法、同位素與放射源綜合、重金屬及其合金分析方法、涂料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、稀有金屬及其合金分析方法、鋼鐵產(chǎn)品綜合、核儀器與核探測器綜合、顏料、有色金屬礦綜合、化學(xué)計(jì)量、建材原料礦、不定型耐火材料、定型隔熱耐火材料、化學(xué)助劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、土壤、肥料綜合、土壤環(huán)境質(zhì)量分析方法、輕金屬及其合金分析方法、有色金屬及其合金產(chǎn)品綜合、冶金原料與輔助材料綜合、物理學(xué)與力學(xué)、造紙綜合、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、金屬物理性能試驗(yàn)方法、工業(yè)廢水、污染物分析方法、紙、電子元件綜合、貴金屬及其合金分析方法、燃料油、輻射防護(hù)監(jiān)測與評(píng)價(jià)、稀有金屬礦、催化劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、石油產(chǎn)品綜合、輕金屬及其合金、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、、生活服務(wù)汽車、基本有機(jī)化工原料、潤滑油、犯罪鑒定技術(shù)、材料防護(hù)、半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、光學(xué)測試儀器、氧化物、單質(zhì)、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器綜合、核材料、核燃料及其分析試驗(yàn)方法、炭素材料。
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
- ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜分析指南
- ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
- ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
- ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).分析導(dǎo)則
- ISO 13424:2013 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜；薄膜分析結(jié)果的報(bào)告
- ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)
- ISO 15472:2001 表面化學(xué)分析 X射線光電譜儀 能量刻度表校準(zhǔn)
- ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
- ISO 18554:2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜 確定背景的程序
- ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜. 選擇儀器性能參數(shù)說明
- ISO 19830:2015 表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
- ISO 14701:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 氧化硅厚度的測量
- ISO 14701:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.二氧化硅厚度的測量
- ISO 16243:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
- ISO 15470:2004 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
- ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
- ISO 17109:2015 表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
- ISO/TR 18392:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子光譜學(xué).背景測定程序
- ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南
- ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針微量分析. 用波長色散X射線光譜測定法定性點(diǎn)分析指南
- ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù).使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述
- ISO 18516:2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
- ISO/CD 5861 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 石英晶體單色Al Ka XPS儀器強(qiáng)度校準(zhǔn)方法
- ISO/DIS 5861:2023 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 石英晶體單色 Al Kα XPS 儀器強(qiáng)度校準(zhǔn)方法
- ISO/DIS 18118:2023 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 使用實(shí)驗(yàn)確定的相對(duì)靈敏度因子進(jìn)行均質(zhì)材料定量分析的指南
- ISO/FDIS 18118:2023 表面化學(xué)分析 - 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 - 使用實(shí)驗(yàn)確定的相對(duì)靈敏度因子進(jìn)行均質(zhì)材料定量分析的指南
- ISO 17109:2022 表面化學(xué)分析.深度剖面.用單層和多層薄膜在X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜中測定濺射速率的方法
- ISO 22489:2006 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
- ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
- ISO 19668:2017 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).均勻材料中元素檢測極限的估算和報(bào)告
- ISO 17054:2010 用X射線熒光光譜法(XRF)近似技術(shù)分析高合金鋼的常規(guī)方法
- ISO 24237:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子光譜法.強(qiáng)度的可重復(fù)性和穩(wěn)定性
- ISO 8754:2003 石油產(chǎn)品.硫含量的測定.能量分散X射線熒光光譜測定法
- ISO 19318:2004 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.電荷控制和電荷校正方法的報(bào)告
- ISO 19318:2021 表面化學(xué)分析. X射線光電光譜法. 電荷控制和電荷校正方法的報(bào)告
- ISO 15632:2021 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
- ISO 15632:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
- ISO 20903:2019 表面化學(xué)分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果時(shí)所需的信息
- ISO 15632:2002 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 19319:2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
- KS D 1654-1993 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 1654-2003(2016) 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 2710-2019 鈮鐵的X射線熒光光譜分析法
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀部分性能參數(shù)說明
- KS D 1655-1993 鋼鐵的X射線熒光光譜分析方法
- KS M 0017-1995 X射線熒光光譜分析的一般規(guī)則
- KS D 1898-2019 銅合金的X射線熒光光譜法分析
- KS D ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
- KS L 3316-2014 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS D 1686-2011(2021) 鐵合金的x射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-2014(2019) 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-1998 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-1988 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)度的線性
- KS D ISO 15472:2003 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜儀.能量刻度的校正
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
- KS E 3076-2017 硅石和硅砂的X射線熒光光譜分析方法
- KS E 3076-2022 硅石和硅砂的X射線熒光光譜分析方法
- KS D 2597-1996(2021) 鋯及鋯合金的X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-2009 耐火磚和耐火泥漿X射線熒光光譜分析法
- KS E 3075-2002 石灰石、白云石的X射線熒光光譜分析方法
- KS D 1655-2008(2019) 用于鋼鐵的X射線熒光光譜測定分析方法
- KS E 3075-2017 石灰石和白云石的X射線熒光光譜分析方法
- KS D 1686-2011(2016) 對(duì)于鐵合金的X射線熒光光譜測定分析方法
- KS E 3075-2022 石灰石和白云石的X射線熒光光譜分析方法
- KS D ISO 15470:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
- KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜電荷控制和電荷校正方法報(bào)告
- KS D 2597-1996(2016) 對(duì)于鋯和鋯合金的X射線熒光光譜測定分析方法
- KS D ISO 17054:2018 通過X射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法
- KS D ISO 15472-2003(2018) 表面化學(xué)分析-X射線光電子分光器-能量刻度矯正
- KS D ISO 15632:2018 微束分析 - 用于電子探針微量分析的能量色散X射線光譜儀的規(guī)范和檢查的選定儀器性能參數(shù)
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實(shí)驗(yàn)測定的相對(duì)靈敏度因子的使用指南
- KS D ISO 22489:2012 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
- KS D ISO 22489:2018 微束分析 - 電子探針微量分析 - 使用波長色散X射線光譜法的批量樣品的定量點(diǎn)分析
- KS D ISO 14706:2003 表面化學(xué)分析.用全反射X射線熒光光譜法測定硅圓片表面主要污物
- KS M ISO 8754:2003 石油產(chǎn)品.硫含量的測定.能量分散X射線熒光光譜測定法
- KS D ISO 19318:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.電荷控制和電荷校正方法的報(bào)告
- KS D ISO 15632:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- AS ISO 19319:2006 表面化學(xué)分析．Augur電子能譜法和X射線光電子光譜法．分析員對(duì)橫向分辨率；分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
- AS ISO 15472:2006 表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜法．能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- AS ISO 15470:2006 表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜法．選定儀器性能參數(shù)的描述
- AS 4392.1:1996 重礦砂．波長色散X射線熒光光譜法分析．鈦礦砂
- AS 4392.2:1997 重礦砂．波長色散X射線熒光光譜法分析．誥石材料
- AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 重礦砂 波長色散 X 射線熒光光譜法分析 含鈦礦砂
- AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996 重礦砂 波長色散 X 射線熒光光譜法分析 含鈦礦砂
- AS ISO 18118:2006 表面化學(xué)分析．俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法．均質(zhì)材料定量分析中實(shí)驗(yàn)測定的相對(duì)靈敏系數(shù)使用指南
- AS ISO 24237:2006 表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜學(xué)．強(qiáng)度標(biāo)的可重復(fù)性和恒定性
- AS ISO 19318:2006 表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜學(xué)．電荷控制和電荷調(diào)整用報(bào)告法
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則
- GB/T 30704-2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
- GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號(hào)對(duì)應(yīng)樣品區(qū)域的通則
- GB/T 42360-2023 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光光譜分析
- GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
- GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性
- GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
- GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
- GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
- GB/Z 32490-2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序
- GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
- GB/T 28892-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述
- GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
- GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
- GB/T 16597-1996 冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則
- GB/T 29556-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定
- GB/T 28633-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
- GB/Z 42520-2023 鐵礦石X射線熒光光譜分析實(shí)驗(yàn)室操作指南
- GB/T 17723-1999 黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法
- GB/T 29513-2013 含鐵塵泥 X射線熒光光譜化學(xué)分析 熔鑄玻璃片法
- GB/T 21114-2007 耐火材料 X射線熒光光譜化學(xué)分析 - 熔鑄玻璃片法
- GB/T 25185-2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.荷電控制和荷電校正方法的報(bào)告
- GB/T 8156.10-1987 工業(yè)用氟化鋁中硫量的測定 X射線熒光光譜分析法
- GB/T 2679.11-2008 紙和紙板 無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析.電子顯微鏡/X射線能譜法
- GB/T 2679.11-1993 紙和紙板中無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析 電子顯微鏡/X射線能譜法
- GB/T 28893-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息
- GB/T 17416.2-1998 鋯礦石化學(xué)分析方法 X射線熒光光譜法測定鋯量和鉿量
- GB/T 30702-2014 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實(shí)驗(yàn)測定的相對(duì)靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南
- GB/Z 41476.4-2022 無損檢測儀器 1 MV以下X射線設(shè)備的輻射防護(hù)規(guī)則 第4部分：控制區(qū)域的計(jì)算
- GB/T 14506.28-1993 硅酸鹽巖石化學(xué)分析方法 X射線熒光光譜法測定主、次元素量
- GB/T 14849.5-2010 工業(yè)硅化學(xué)分析方法.第5部分：元素含量的測定.X射線熒光光譜法
- GB/T 14849.5-2014 工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第5部分:雜質(zhì)元素含量的測定 X射線熒光光譜法
- GB/T 6609.30-2009 氧化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測定方法.第30部分:X射線熒光光譜法測定微量元素含量
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
- DIN 51418-1:2008 X射線光譜測定法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第1部分:定義和基本原理
- DIN 51418-2:2015 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則
- DIN 51418-2:1996 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則
- DIN ISO 16129:2020 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評(píng)估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
- DIN 51418-1:2008-08 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第1部分：定義和基本原理
- DIN 51418-1:1996 X光射線光譜測定法.X光射線散射和X光射線熒光分析(RFA).第1部分:定義和基本原理
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化學(xué)分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)
- DIN 51418-2:2015-03 X 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第2部分：測量、校準(zhǔn)和結(jié)果評(píng)估的定義和基本原則
- DIN ISO 15472:2020 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)（ISO 15472:2010）；英文文本
- DIN ISO 15632:2022-09 微束分析 用于能量色散 X 射線光譜儀規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)
- DIN 51440-1:2003 汽油檢測.磷含量測定.第1部分:波長色散X射線光譜分析法
- DIN EN ISO 8754:2003 石油產(chǎn)品.硫含量的測定.能量分散X射線熒光光譜法
- DIN EN 10315:2006 使用臨近技術(shù)用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法
- DIN 51431-2:2004 潤滑劑的檢驗(yàn).鎂含量測定.第2部分:波長色散的X射線光譜分析法(XRF)
- DIN EN 10315:2006-10 使用近旁技術(shù)通過 X 射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)方法
- DIN 51577-4:1994 礦物油碳?xì)浠衔锖皖愃飘a(chǎn)品的檢驗(yàn).氯和溴含量的測定.用低價(jià)格儀器的能量散射X射線光譜儀分析
- DIN 51391-2:1994-03 潤滑劑測試；添加元素含量的測定；通過波長色散 X 射線光譜 (XRS) 進(jìn)行分析
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
- BS ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
- BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
- BS ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南
- BS ISO 13424:2013 表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表
- BS ISO 18554:2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序
- BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度尺度的線性
- BS ISO 19830:2015 表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
- BS ISO 14701:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 氧化硅厚度的測量
- BS ISO 14701:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).二氧化硅厚度測量
- BS ISO 16243:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
- BS ISO 17109:2022 表面化學(xué)分析 深度剖析 使用單層和多層薄膜的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜濺射深度分析中濺射速率的測定方法...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化學(xué)分析 深度剖析 使用單一和……的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜濺射深度分析中濺射速率測定方法
- PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析 全反射 X 射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應(yīng)用
- BS ISO 15470:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
- BS ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
- BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
- BS ISO 17109:2015 表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
- BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)
- BS ISO 15632:2021 微束分析 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)
- BS ISO 19668:2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 均質(zhì)材料中元素檢測限的估計(jì)和報(bào)告
- BS ISO 19318:2021 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 報(bào)告用于電荷控制和電荷校正的方法
- BS ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計(jì).能量等級(jí)的校準(zhǔn)
- BS ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長分散X射線光譜測定法的定性點(diǎn)分析指南
- BS ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性度
- BS ISO 18516:2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
- BS ISO 18118:2015 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實(shí)驗(yàn)確定的相對(duì)靈敏度因子進(jìn)行均質(zhì)材料定量分析的指南
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實(shí)驗(yàn)確定的相對(duì)靈敏度因子進(jìn)行均質(zhì)材料定量分析的指南
- BS ISO 20903:2019 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果時(shí)所需的信息
- 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 報(bào)告用于電荷控制和電荷校正的方法
- DD ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
- BS ISO 22489:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
- BS ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
- BS ISO 20903:2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學(xué).測定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果要求的信息
- BS EN 10315:2006 臨近技術(shù)使用的X射線熒光光譜法(XRF)高合金鋼分析的常規(guī)方法
- BS ISO 24237:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子光譜學(xué).強(qiáng)度標(biāo)的可重復(fù)性和穩(wěn)定性
- BS EN 10315:2006(2010) 臨近技術(shù)使用的X射線熒光光譜法(XRF)高合金鋼分析的常規(guī)方法
- BS ISO 19318:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.電荷控制和電荷校正方法的報(bào)告
- BS ISO 14706:2000 表面化學(xué)分析.采用全反射X射線熒光(TXRF)光譜法對(duì)硅片表面元素污染物的測定
- BS ISO 14706:2014 表面化學(xué)分析.采用全反射X射線熒光(TXRF)光譜法對(duì)硅片表面元素污染物的測定
- BS ISO 14706:2001 表面化學(xué)分析 采用全反射X射線熒光（TXRF）光譜法對(duì)硅片表面元素污染物的測定
美國電氣電子工程師學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- IEEE 759-1984 半導(dǎo)體X射線能譜分析器的試驗(yàn)程序
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E1621-21 X射線發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1621-05 X射線發(fā)散光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E1085-95(2004) 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗(yàn)方法
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- ASTM E572-94(2000) 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E572-02a(2006)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
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- ASTM E1361-90(1999) X射線光譜分析中入射效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E572-94(2000)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1361-02(2021) X射線光譜分析中入射效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
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- ASTM D5381-93(1998) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
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- ASTM C1271-99 石灰石灰石X射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
- ASTM C1271-99(2020) 石灰石灰石X射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
- ASTM E2465-11e1 用 X 射線光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM C1271-99(2012) 石灰和石灰?guī)rX射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1588-16 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E322-96(2004) 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
- ASTM E1621-13 波長色散X射線熒光光譜法元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM C1255-93(1999) 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM C1255-18 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM C1255-93(2005) 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM C1255-11 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1588-16a 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E1588-17 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E539-11 利用 X 射線熒光光譜法分析鈦合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1085-09 用X 射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E2465-19 用X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E539-90(1996)e1 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E539-02 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E539-06 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1588-07e1 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-07 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM F1375-92(2005) 氣體分配系統(tǒng)元部件用金屬表面狀態(tài)的能量分散X射線分光光譜分析試驗(yàn)法
- ASTM E1361-02 X射線光譜測定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1361-02(2007) X射線光譜測定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1361-02(2014)e1 X射線光譜測定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM D5839-96(2001) 能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險(xiǎn)廢油中痕量元素的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5839-96(2006) 能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險(xiǎn)廢油中痕量元素的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D5839-15(2023) 用能量分散X射線熒光光譜法分析危險(xiǎn)廢燃料中微量元素的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1621-94(1999) 用波長色散X射線熒光光譜法進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1621-22 用波長色散X射線熒光光譜法進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-20 通過掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行槍支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
- ASTM D5839-15 采用能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險(xiǎn)廢油中微量元素的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E539-19 用波長色散X射線熒光光譜法分析鈦合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E539-07 6鋁4釩鈦合金的X射線熒光光譜測定分析用標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E2465-11 用波長色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1085-22 用波長色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E2465-13 用波長色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6247-98(2004) 用X射線熒光光譜法分析聚烯烴中元素含量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1031-96 用 X 射線光譜法分析煉鐵和煉鋼渣的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法（2002 年撤回）
- ASTM D5839-96 通過能量分散X射線熒光光譜法對(duì)危險(xiǎn)廢物燃料進(jìn)行痕量元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
- ASTM E2465-06 用X射線熒光光譜測定法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6247-98 用X射線熒光度譜術(shù)對(duì)聚烯烴內(nèi)元素含量分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E572-02a(2006)e2 用X射線熒光光譜測定法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E1085-16 采用波長色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6445-99 能量分散X射線熒光光譜法測定汽油中硫的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6445-99(2004)e1 能量分散X射線熒光光譜法測定汽油中硫的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM F1375-92(2012) 氣體分配系統(tǒng)元部件用金屬表面狀態(tài)的能量分散X射線分光光譜儀 (EDX) 分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E572-12 用波長色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E322-12 用波長色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼和鑄鐵的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E572-13 用波長色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D6247-10 用波長分散X射線熒光光譜分析聚烯烴中基本元素含量試的標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)方法
- ASTM E572-21 通過波長色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM C1110-03(2008) 使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾X射線發(fā)射光譜分析用樣品的標(biāo)準(zhǔn)方法
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- NF X21-006:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法進(jìn)行塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
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- NF X21-008:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)格
- NF EN ISO 13196:2015 土壤質(zhì)量 – 使用便攜式或手持式能量色散 X 射線熒光光譜儀快速分析土壤中的選定元素
- NF M07-110*NF EN ISO 20847:2004 石油產(chǎn)品 機(jī)動(dòng)車燃料的硫含量測定 能量分散X射線熒光光譜法
- NF X21-058:2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜學(xué)和X射線光電子光譜法.測定峰強(qiáng)度使用的方法和報(bào)告結(jié)果時(shí)需要的信息
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
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- JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
- JIS R 2216:2005 耐火制品X射線熒光光譜分析法
- JIS H 1631:2008 鈦合金.X射線熒光光譜測定分析法
- JIS G 1256 AMD 1:2010 鋼鐵.X射線熒光光譜測定分析方法
- JIS G 1351:2006 鐵合金.X-射線熒光光譜測定分析法
- JIS H 1292:1997 銅和銅合金的X射線熒光光譜分析法
- JIS H 1287:2015 鎳和鎳合金. X射線熒光光譜分析方法
- JIS G 1256 AMD 2:2013 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法(修改件2)
- JIS K 0152:2014 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜分析. 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
- JIS H 1669:1990 鋯合金的X射線熒光光譜測定分析方法
- JIS G 1351:1987 鐵合金的X射線熒光光譜測定分析方法
- JIS R 2216:1995 耐火磚和耐火灰漿X射線熒光光譜分析方法
- JIS K 0162:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
- JIS K 0190:2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南
- JIS K 0145:2002 表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計(jì).能量刻度的校準(zhǔn)
- JIS K 0189:2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測定
- JIS K 0167:2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學(xué).勻質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測定相對(duì)敏感因子的使用指南
- JIS T 0306:2002 用X射線光電子光譜法分析金屬生物材料形成的無源膜的狀態(tài)
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 4177-2008 爐渣 X射線熒光光譜分析方法
RU-GOST R，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST R 55080-2012 鑄鐵. X射線熒光光譜(XRF)分析法
- GOST 16865-1979 X射線結(jié)構(gòu)和光譜分析裝置.術(shù)語和定義
- GOST R ISO 16243-2016 確保測量一致性的國家系統(tǒng). 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜 (XPS) 的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
- GOST 32139-2013 石油和石油制品. 使用能量分散X射線熒光光譜法測定硫含量
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 36401-2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告
- GB/T 41073-2021 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報(bào)告的基本要求
- GB/T 16597-2019 冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則
- GB/T 41064-2021 表面化學(xué)分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜中深度剖析濺射速率的方法
- GB/T 21114-2019 耐火材料 X射線熒光光譜化學(xué)分析 熔鑄玻璃片法
- GB/T 40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測定硅片表面元素污染
- GB/T 41105.3-2021 無損檢測 X射線管電壓的測量和評(píng)價(jià) 第3部分：能譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-地質(zhì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- DZ/T 0279.10-2016 區(qū)域地球化學(xué)樣品分析方法 第10部分：氯和溴量測定 粉末壓片——X射線熒光光譜法
- DZ/T 0279.1-2016 區(qū)域地球化學(xué)樣品分析方法 第1部分：三氧化二鋁等24個(gè)成分量測定 粉末壓片—X射線熒光光譜法
- DZ/T 0279.11-2016 區(qū)域地球化學(xué)樣品分析方法 第11部分：銀、硼和錫量測定 交流電弧——發(fā)射光譜法
- DZ/T 0279.12-2016 區(qū)域地球化學(xué)樣品分析方法 第12部分：鉑、鈀和金量測定 火試金富集——發(fā)射光譜法
安徽省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- DB34/T 2127.2-2014 區(qū)域地球化學(xué)調(diào)查樣品分析方法 第2部分：X 射線熒光光譜法多元素含量的測定
- DB34/T 2127.11-2014 區(qū)域地球化學(xué)調(diào)查樣品分析方法 第11部分：發(fā)射光譜法銀、硼、錫、鉛含量的測定
- DB34/T 2127.12-2014 區(qū)域地球化學(xué)調(diào)查樣品分析方法 第12部分：化學(xué)處理-發(fā)射光譜法 金含量的測定
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
- GB/T 33502-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜（XPS）數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求
KR-KS，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學(xué)分析-X射線光電子能譜儀-能量刻度的校準(zhǔn)
- KS D ISO 17054-2018 通過X射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法
- KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于電子探針微量分析的能量色散X射線光譜儀的規(guī)范和檢查的選定儀器性能參數(shù)
- KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 電子探針微量分析 - 使用波長色散X射線光譜法的批量樣品的定量點(diǎn)分析
- KS D ISO 22489-2018(2023) 微束分析.電子探針微量分析.用波長色散x射線光譜法對(duì)大塊樣品進(jìn)行定量點(diǎn)分析
- KS D ISO 17054-2018(2023) 用近場技術(shù)用X射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法
工業(yè)和信息化部/國家能源局，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 12962.2-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第2部分：元素分析儀
- JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀
- JB/T 12962.1-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第1部分：通用技術(shù)
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電力，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- DL/T 1151.22-2012 火力發(fā)電廠垢和腐蝕產(chǎn)物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析
廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- DB44/T 1602-2015 石材成分分析方法--X射線熒光光譜法
- DB44/T 1826-2016 合金飾品成分的測定 能量色散X射線熒光光譜法
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測定
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- EJ/T 805-1993 X射線熒光分析用低能光子源
- EJ/T 684-2016 便攜式能量色散X射線熒光分析儀
福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- DB35/T 110-2000 油漆物證檢測電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法
IN-BIS，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 12803-1989 X射線熒光光譜儀分析水硬性水泥的方法
國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 1133-2005 X射線熒光光譜法黃金含量分析儀校準(zhǔn)規(guī)范
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- SN/T 2079-2008 不銹鋼及合金鋼分析方法X-射線熒光光譜法
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測定硅和鋁
- PD CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵的分析 X射線熒光光譜法測定硅和鋁
- EN 10315:2006 使用臨近技術(shù)用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- YS/T 483-2005 銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 (波長色散型)
- YS/T 273.14-2008 冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 14部分:X射線熒光光譜分析法測定元素含量
- YS/T 581.10-2006 氟化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第10部分：X射線熒光光譜分析法測定硫含量
- YS/T 273.11-2006 冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法.第11部分：x射線熒光光譜分析法測定硫含量
- YS/T 581.16-2008 氟化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第16部分 X射線熒光光譜分析法測定元素含量
- YS/T 703-2014 石灰石化學(xué)分析方法 元素含量的測定 X射線熒光光譜法
- YS/T 581.18-2012 氟化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第18部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測定元素含量
- YS/T 273.15-2012 冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第15部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測定元素含量
- YS/T 575.23-2009 鋁土礦石化學(xué)分析方法.第23部分:X射線熒光光譜法測定元素含量
- YS/T 820.19-2012 紅土鎳礦化學(xué)分析方法.第19部分：鋁、鉻、鐵、鎂、錳、鎳和硅量的測定.能量色散X射線熒光光譜法
- YS/T 806-2012 鋁及鋁合金中稀土分析方法.X-射線熒光光譜法測定.鑭、鈰、鐠、釹、釤含量
- YS/T 63.16-2006 鋁用炭素材料檢測方法 第16部分：微量元素的測定X射線熒光光譜分析方法
工業(yè)和信息化部，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- YS/T 483-2022 銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 （波長色散型）
- YS/T 1033-2015 干式防滲料元素含量的測定 X射線熒光光譜分析法
- YS/T 581.15-2012 氟化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第15部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測定元素含量
- YS/T 806-2020 鋁及鋁合金化學(xué)分析方法 元素含量的測定 X射線熒光光譜法
- YS/T 575.23-2021 鋁土礦石化學(xué)分析方法 第23部分：元素含量的測定 X射線熒光光譜法
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/CEN/TR 10354:2012 黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測定Si和Al
- DS/ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管
- DS/EN 10315:2006 采用近旁技術(shù)的 X 射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- HG/T 6150-2023 潤滑油加氫異構(gòu)催化劑化學(xué)成分分析方法 X射線熒光光譜法
美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- ANSI/ASTM D6247:1998 通過X射線熒光光譜法對(duì)聚烯烴中元素含量分析的試驗(yàn)方法
中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- T/IMPCA 0001-2021 化工裝置鋼鐵及其制品中合金元素 X 射線 熒光光譜分析方法
- T/NAIA 0128-2022 氫氧化鋁快速測定 X射線熒光光譜分析（壓片）法測定元素含量
VN-TCVN，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- TCVN 3172-2008 石油和石油產(chǎn)品.用能量分散X射線熒光光譜法測定硫磺
BE-NBN，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- NBN-ISO 8754:1993 石油產(chǎn)品．硫含量的測定．能量分散X射線熒光光譜測定法
臺(tái)灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- CNS 14472-2000 石油產(chǎn)品中硫含量測定法(能量分布式X-射線螢光光譜法)
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- LST EN 10315-2006 采用近旁技術(shù)的 X 射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法
AENOR，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN 10315:2007 采用近旁技術(shù)的 X 射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法
云南省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- DB53/T 639.7-2014 直接還原鐵化學(xué)分析方法 第7部分：多元素的測定 X射線熒光光譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- GA/T 1521-2018 法庭科學(xué) 塑料元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1519-2018 法庭科學(xué) 墨粉元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 8425-1996 鐵基噴涂粉末中鉻、鎳、鉬和釩的X射線熒光光譜分析標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- JB/T 11602.3-2013 無損檢測儀器 X射線管電壓的測量和評(píng)定 第3部分:能譜檢測
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-紡織，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- FZ/T 01163-2022 紡織品及其附件總鉛和總鎘含量的測定 X射線熒光光譜（XRF）分析法
GOSTR，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST 32139-2019 石油和石油制品 使用能量分散X射線熒光光譜法測定硫含量
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-稀土，關(guān)于x射線能譜分析區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)
- XB/T 610.1-2007 釤鈷1:5型永磁合金粉化學(xué)分析方法 釤、鈷量的測定 X-射線熒光光譜法
