俄歇電子能譜的靈敏度
本專題涉及俄歇電子能譜的靈敏度的標準有106條。
國際標準分類中，俄歇電子能譜的靈敏度涉及到分析化學、電子元器件綜合、光學設備、光學和光學測量、金屬材料試驗、長度和角度測量、無損檢測、電學、磁學、電和磁的測量、太陽能工程。
在中國標準分類中，俄歇電子能譜的靈敏度涉及到標準化、質量管理、基礎標準與通用方法、化學、電子光學與其他物理光學儀器、金屬化學分析方法綜合、質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯用裝置、光學測試儀器、綜合測試系統、太陽能。
美國材料與試驗協會，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- ASTM E1127-24 俄歇電子能譜深度剖面標準指南
- ASTM E1127-08(2015) 俄歇電子能譜學中的深度壓形的標準指南
- ASTM E1127-08 俄歇電子能譜學中的深度壓形的標準指南
- ASTM E1127-91(1997) 俄歇電子能譜學中的深度壓形的標準指南
- ASTM E996-10(2018) 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數據報告的標準實施規程
- ASTM E996-10 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規程
- ASTM E996-19 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數據報告的標準實施規程
- ASTM E996-04 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規程
- ASTM E995-11 在俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中應用背景消除技術的標準指南
- ASTM E995-16 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜背景減法技術標準指南
- ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數據報告的標準規程
- ASTM E984-12(2020) 識別俄歇電子能譜中化學效應和基質效應的標準指南
- ASTM E984-95 識別俄歇電子能譜中化學效應和基質效應的標準指南
- ASTM E984-95(2001) 識別俄歇電子能譜中化學效應和基質效應的標準指南
- ASTM E984-12 用俄歇電子能譜法鑒別化學效應和基體效應的標準指南
國際標準化組織，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- ISO 18118:2024 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實驗確定的相對靈敏度因子的使用指南
- ISO/FDIS 18118:2023 表面化學分析 - 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 - 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
- ISO/DIS 18118:2023 表面化學分析 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
- ISO 21270:2004 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
- ISO/CD 17973 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準
- ISO/TR 18394:2016 表面化學分析. 俄歇電子能譜學. 提取化學信息
- ISO 16242:2011 表面化學分析.俄歇電子能譜術(AES)的記錄和報告數據
- ISO/DIS 17973:2023 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準
- ISO 15471:2004 表面化學分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數的描述
- ISO 15471:2016 表面化學分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數的描述
- ISO/TR 18394:2006 表面化學分析.俄歇電子光譜法.化學信息的推導
韓國科技標準局，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- KS D ISO 18118-2020 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 均質材料定量分析中實驗確定的相對靈敏度因子的使用指南
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實驗測定的相對靈敏度因子的使用指南
- KS D ISO 21270-2020 表面化學分析 X射線光電子能譜和俄歇電子能譜儀 強度標度線性度
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標度的線性
- KS D ISO 21270:2005 表面化學分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
- KS D ISO 15471-2020 表面化學分析 俄歇電子能譜 所選儀器性能參數說明
- KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化學分析－俄歇電子能譜學－選定儀器性能參數的描述
- KS D ISO 17973-2021 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準
- KS D ISO 15471:2005 表面化學分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數的描述
- KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化學分析中分辨率俄歇電子能譜儀元素分析用能標的校準
行業標準-電子，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- SJ/T 10457-1993 俄歇電子能譜術深度剖析標準導則
- SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術和X射線光電子能譜術的樣品處理標準導則
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- GB/T 35158-2017 俄歇電子能譜儀檢定方法
- GB/T 32565-2016 表面化學分析 俄歇電子能譜（AES）數據記錄與報告的規范要求
GSO，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- OS GSO ISO 18118:2013 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
- GSO ISO 18118:2013 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
- BH GSO ISO 18118:2016 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
- BH GSO ISO 21270:2016 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- GSO ISO 21270:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- OS GSO ISO 21270:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- GSO ISO/TR 18394:2021 表面化學分析 俄歇電子能譜 化學信息的推導
- OS GSO ISO 18516:2013 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- BH GSO ISO 18516:2016 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- GSO ISO 18516:2013 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- GSO ISO 16242:2015 表面化學分析 在俄歇電子能譜中記錄和報告數據
- BH GSO ISO 16242:2017 表面化學分析 俄歇電子能譜 (AES) 中記錄和報告數據
- BH GSO ISO 17973:2016 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準
- GSO ISO 17973:2013 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準
- OS GSO ISO 29081:2013 表面化學分析 俄歇電子能譜 電荷控制和電荷校正方法的報告
- OS GSO ISO 17973:2013 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準
- BH GSO ISO 29081:2016 表面化學分析 俄歇電子能譜 電荷控制和電荷校正方法的報告
- BH GSO ISO 20903:2016 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰強度和報告結果時所需信息的方法
英國標準學會，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- BS ISO 18118:2024 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
- BS ISO 18118:2015 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
- BS ISO 21270:2004 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度尺度的線性
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度線性度
- PD ISO/TR 18394:2016 表面化學分析 俄歇電子能譜 化學信息的推導
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測定
- BS ISO 21270:2005 表面化學分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強度標的線性度
- BS ISO 17973:2016 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準
- BS ISO 15471:2016 表面化學分析 俄歇電子能譜 所選儀器性能參數的描述
- BS ISO 16242:2011 表面化學分析.俄歇電子能譜術的記錄和報告數據(AEC)
- 23/30469291 DC BS ISO 17973 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準
- BS ISO 15471:2005 表面化學分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數的描述
- BS ISO 20903:2019 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
- BS ISO 24236:2005 表面化學分析.俄歇電子光譜法.強度標的可重復性和一致性
- BS PD ISO/TR 18394:2016 表面化學分析.俄歇電子光譜法.化學信息的推導
SCC，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- BS ISO 18118:2004 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
- BS PD ISO/TR 18394:2006 表面化學分析 俄歇電子能譜 化學信息的推導
- ASTM E983-04 最小化俄歇電子能譜中不需要的電子束效應的標準指南
- BS ISO 17973:2002 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準
- BS ISO 15471:2004 表面化學分析 俄歇電子能譜 所選儀器性能參數的描述
- BS ISO 20903:2006 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
- 10/30199172 DC BS ISO 16242 表面化學分析 俄歇電子能譜法（AES）的數據記錄和報告
國家質檢總局，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- GB/T 30702-2014 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南
- GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則
- GB/T 21006-2007 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性
- GB/T 29558-2013 表面化學分析 俄歇電子能譜 強度標的重復性和一致性
- GB/Z 32494-2016 表面化學分析 俄歇電子能譜 化學信息的解析
- GB/T 28632-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
- GB/T 25187-2010 表面化學分析.俄歇電子能譜.選擇儀器性能參數的表述
- GB/T 28893-2024 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測定峰強度的方法和報告結果所需的信息
- GB/T 28893-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強度的方法和報告結果所需的信息
- GB/T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應樣品區域的通則
行業標準-機械，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- JB/T 6976-1993 俄歇電子能譜術元素鑒定方法
澳大利亞標準協會，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- AS ISO 18118:2006 表面化學分析．俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法．均質材料定量分析中實驗測定的相對靈敏系數使用指南
- ISO 17973:2024 表面化學分析 中等分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- GB/T 36504-2018 印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜
- GB/T 36533-2018 硅酸鹽中微顆粒鐵的化學態測定 俄歇電子能譜法
法國標準化協會，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- NF ISO 24236:2006 表面化學分析 俄歇電子能譜 能級的重復性和恒定性
- NF ISO 17973:2006 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準
- NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化學分析.俄歇電子能譜術(AES)的記錄和報告數據
- NF ISO 16242:2012 表面化學分析 俄歇電子能譜(AES)數據記錄和報告
BSI，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- BS ISO 17973:2024 表面化學分析 中等分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準
德國標準化學會，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- DIN ISO 16242 E:2019-10 表面化學分析 俄歇電子能譜（AES）中的數據記錄和報告
- DIN ISO 16242:2020-05 表面化學分析 在俄歇電子能譜(AES)中記錄和報告數據
日本工業標準調查會，關于俄歇電子能譜的靈敏度的標準
- JIS K 0167:2011 表面化學分析 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學 勻質材料定量分析用實驗室測定相對敏感因子的使用指南
- JIS K 0161:2010 表面化學分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數的描述
- JIS C 8915:1989 結晶系太陽能電池光譜靈敏度測定法
